transmission electron microscope price

الانبعاث الميداني TEM | ث-F120

120 كيلو فولت المجهر الإلكتروني لنقل الانبعاثات الميدانية (TEM)

1. مساحات العمل المقسمة: يقوم المستخدمون بتشغيل TEM في غرفة مقسمة مع الراحة مما يقلل من التداخل البيئي مع TEM.

2. كفاءة تشغيلية عالية: يدمج البرنامج المخصص عمليات مؤتمتة للغاية، مما يسمح بتفاعل TEM فعال مع المراقبة في الوقت الفعلي.

3. تجربة تشغيلية مطورة: مجهزة بمسدس إلكتروني ذو انبعاث ميداني مع نظام آلي للغاية.

4. قابلية توسعة عالية: توجد واجهات كافية مخصصة للمستخدمين للترقية إلى تكوين أعلى، والذي يلبي متطلبات التطبيقات المتنوعة.

معرض الصور لمجهر CIQTEK TEM TH-F120


TEM Microscope analysis image
TEM Microscope analysis image

  • tem image analysis
  • tem image analysis

مواصفات المجهر CIQTEK TH-F120 TEM
إصدار عالي التباين إصدار عالي الدقة
جهد التسارع 10 كيلو فولت ~ 120 كيلو فولت 10 كيلو فولت ~ 120 كيلو فولت
حد المعلومات 0.20 نانومتر 0.14 نانومتر
دقة النقطة 0.36 نانومتر 0.3 نانومتر
نطاق التكبير 10 ~1,200,000 × 10 ~ 1,500,000 ×
حجم مستشعر الكاميرا 4096 × 4096 (بكسل) 4096 × 4096 (بكسل)
زاوية دوران المرحلة -90° ~ +90° -70° ~ +70°
المعدات الاختيارية EDS، STEM، كاميرا جانبية، EELS، صندوق التبريد
ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم
منتجات ذات صله
fib sem microscopy

المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني (FE-SEM) مع أعمدة الشعاع الأيوني المركز (FIB) يحتوي CIQTEK DB550 على المجهر الإلكتروني لمسح الشعاع الأيوني المركّز (FIB-SEM) على عمود شعاع أيوني مركّز لتحليل النانو وإعداد العينات. إنه يستخدم تقنية البصريات الإلكترونية "النفق الفائق"، وانحراف منخفض وتصميم موضوعي غير مغناطيسي، وله ميزة "الجهد المنخفض والدقة العالية" لضمان قدراته التحليلية النانوية. تسهل الأعمدة الأيونية مصدر أيون المعدن السائل Ga+ مع حزم أيونية عالية الجودة ومستقرة للغاية لضمان قدرات التصنيع النانوي. DB550 عبارة عن محطة عمل متكاملة لتحليل وتصنيع النانو مع معالج نانو متكامل ونظام حقن الغاز وبرنامج واجهة المستخدم الرسومية سهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
sem electron microscope

مجهر إلكتروني ماسح عالي السرعة للتصوير على نطاق واسع للحجم الكبير للعينات CIQTEK HEM6000 مرافق تقنيات مثل المسدس الإلكتروني ذو الشعاع الكبير عالي السطوع، ونظام انحراف شعاع الإلكترون عالي السرعة، وتباطؤ مرحلة العينة عالية الجهد، والمحور البصري الديناميكي، والعدسة الموضوعية الكهرومغناطيسية والكهروستاتيكية المغمورة لتحقيق الحصول على صور عالية السرعة مع ضمان دقة النانو. تم تصميم عملية التشغيل الآلي لتطبيقات مثل سير عمل التصوير عالي الدقة لمساحة كبيرة أكثر كفاءة وذكاءً. يمكن أن تصل سرعة التصوير إلى أكثر من 5 مرات أسرع من المجهر الإلكتروني التقليدي الماسح للانبعاثات الميدانية (FESEM).

يتعلم أكثر
fesem edx

الفحص المجهري الإلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية عالي الدقة (FESEM)يتحدى الحدود CIQTEK SEM5000X عبارة عن FESEM عالي الدقة مع تصميم عمود بصريات إلكتروني محسّن، مما يقلل الانحرافات الإجمالية بنسبة 30%، ويحقق دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت . إن دقتها العالية واستقرارها يجعلها مفيدة في أبحاث المواد الهيكلية النانوية المتقدمة، فضلاً عن تطوير وتصنيع رقائق IC لأشباه الموصلات ذات التقنية العالية.

يتعلم أكثر
sem microscope price

اقرأ CIQTEK SEM المجاهر رؤى العملاء واعرف المزيد عن نقاط قوة CIQTEK وإنجازاتها باعتبارها الشركة الرائدة في صناعة SEM! البريد الإلكتروني: info@ciqtek.com

يتعلم أكثر
قمة

ترك رسالة

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم

بيت

منتجات

محادثة

اتصال