field emission scanning electron microscopy

فيسم | SEM5000Pro

دقة عالية في ظل الإثارة المنخفضة

CIQTEK SEM5000Pro هو مجهر إلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية (FE-SEM) من شوتكي متخصص في الدقة العالية حتى في ظل جهد الإثارة المنخفض. إن استخدام تقنية البصريات الإلكترونية المتقدمة "Super-Tunnel" يسهل مسار شعاع خالي من التقاطع مع تصميم عدسة مركبة كهرومغناطيسية كهروستاتيكية.

تقلل هذه التطورات من تأثير الشحن المكاني، وتقلل من انحرافات العدسة، وتعزز دقة التصوير عند الجهد المنخفض، وتحقق دقة تبلغ 1.2 نانومتر عند 1 كيلو فولت، مما يسمح بالمراقبة المباشرة للعينات غير الموصلة أو شبه الموصلة، مما يقلل العينة بشكل فعال أضرار الإشعاع.

البصريات الإلكترونية

sem3200 Intermittent Anode

â تقنية عمود البصريات الإلكترونية "النفق الفائق"/تباطؤ شعاع العدسة
تقليل تأثير الشحن المكاني، وضمان دقة الجهد المنخفض.

â خالية من التقاطع في مسار شعاع الإلكترون
تقليل انحرافات العدسة بشكل فعال وتحسين الدقة.

â عدسة موضوعية مركبة كهرومغناطيسية وكهروستاتيكية
تقليل الانحرافات، وتحسين الدقة بشكل كبير عند الفولتية المنخفضة، وتمكين مراقبة العينات المغناطيسية.

â عدسة موضوعية ذات درجة حرارة ثابتة مبردة بالماء
تأكد من ثبات تشغيل العدسة الموضوعية وموثوقيتها وتكرارها.

â فتحة متغيرة متعددة الفتحات مع نظام انحراف الشعاع الكهرومغناطيسي
التبديل التلقائي بين الفتحات دون حركة ميكانيكية، مما يسمح بالتبديل السريع بين أوضاع التصوير.


ⶠصور عالية الدقة ذات الجهد المنخفض


ⶠكاشف / عينة الإلكترون داخل العدسة


ⶠكاشف Everhart-Thornley (ETD)


ⶠكاشف الإلكترونات المتناثرة للخلف (BSED) القابل للسحب*اختياري

FESEM Retractable Back-Scattered Electron Detector (BSED)

ⶠوضع ECCI المستند إلى BSED (تصوير تباين القنوات الإلكترونية)

يشير "تأثير توجيه الإلكترون" إلى انخفاض كبير في تشتت الإلكترونات بواسطة الشبكات البلورية، عندما يفي شعاع الإلكترون الساقط بشرط حيود براج، مما يسمح لعدد كبير من الإلكترونات بالمرور عبر الشبكة، وبالتالي يُظهر "توجيه" مفعول به.

بالنسبة للمواد متعددة البلورات ذات التركيبة الموحدة والأسطح المسطحة المصقولة، تعتمد شدة الإلكترونات المتناثرة على الاتجاه النسبي بين شعاع الإلكترون الساقط والمستويات البلورية. تظهر الحبوب ذات الاختلاف الأكبر في الاتجاه إشارات أقوى، وبالتالي يتم تحقيق صور أكثر سطوعًا، ويتم تحقيق التوصيف النوعي مع خريطة اتجاه الحبوب هذه.


ⶠالتصوير المتزامن متعدد القنوات عبر أجهزة الكشف المختلفة


ⶠكاشف الفحص المجهري الإلكتروني (STEM) القابل للسحب

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

أوضاع التشغيل المتعددة: تصوير المجال الساطع (BF)، تصوير المجال المظلم (DF)، تصوير المجال المظلم الحلقي عالي الزاوية (HAADF)


ⶠالتقدم في المجهر الإلكتروني CIQTEK - المزيد من الخيارات

قياس طيف تشتت الطاقة

  • Energy Dispersive Spectrometry

التألق الكاثوليني

  • sem image analysis -Catholuminescence
  • sem image analysis - Catholuminescence

EBSD

  • sem EBSD
  • sem EBSD

معرض صور مجهر CIQTEK FESEM SEM5000Pro


علم المواد - المواد النانوية


علم المواد - مواد الطاقة


علم المواد - المواد البوليمرية والمواد المعدنية


المواد المغناطيسية - المواد البوليمرية والمواد المعدنية


مواد أشباه الموصلات


علوم الحياة

توصيف حاملات القزحية في خلايا جلد السحلية، باستخدام كاشف STEM في CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

يمكن تصنيف الألوان الحيوانية في الطبيعة إلى فئتين بناءً على آليات تكوينها: الألوان الصبغية والألوان الهيكلية.
يتم تحقيق ألوان الصبغة من خلال الاختلافات في تركيبة الصبغة وتداخل الألوان، على غرار مبادئ "الألوان الأساسية".
من ناحية أخرى، يتم إنشاء الألوان الهيكلية من خلال انعكاس الضوء بأطوال موجية مختلفة بواسطة هياكل فسيولوجية معقدة، تعتمد في المقام الأول على مبادئ البصريات. تمتلك حاملات القزحية، الموجودة في خلايا جلد السحالي، هياكل مشابهة لشبكات الحيود. ونحن نشير إلى هذه الهياكل باسم "الصفائح البلورية". يمكن للصفائح البلورية أن تعكس وتشتت الضوء بأطوال موجية مختلفة. أظهرت الدراسات أنه من خلال تغيير حجم الصفائح البلورية وتباعدها وزاويتها في حاملات القزحية السحلية، يمكن تغيير الأطوال الموجية للضوء المنتشرة والمنعكسة عن طريق جلدها. هذه النتيجة مهمة لفهم الآليات الكامنة وراء تغير اللون في جلد السحلية.

  • sem image analysis lizard skin cells
  • sem image analysis lizard skin cells

ⶠبرنامج تحليل الجسيمات والمسام (الجسيمات) *اختياري

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

يستخدم برنامج المجهر CIQTEK SEM العديد من خوارزميات الكشف عن الأهداف وتقسيمها، وهي مناسبة لأنواع مختلفة من عينات الجسيمات والمسام. فهو يتيح التحليل الكمي لإحصاءات الجسيمات والمسام ويمكن تطبيقه في مجالات مثل علوم المواد والجيولوجيا وعلوم البيئة.


ⶠبرنامج معالجة ما بعد الصور*اختياري

SEM Microscope Image Post-processing Software

قم بإجراء المعالجة اللاحقة للصور عبر الإنترنت أو دون اتصال بالإنترنت على الصور الملتقطة بواسطة المجاهر الإلكترونية ودمج وظائف معالجة الصور EM شائعة الاستخدام والقياس المريح وأدوات التعليقات التوضيحية.


ⶠقياس تلقائي *اختياري

SEM Microscope software Auto Measure

التعرف التلقائي على حواف عرض الخط، مما يؤدي إلى قياسات أكثر دقة واتساق أعلى. دعم أوضاع الكشف عن الحواف المتعددة، مثل الخط، والمساحة، ودرجة الصوت، وما إلى ذلك. متوافق مع تنسيقات الصور المتعددة ومجهز بالعديد من وظائف ما بعد معالجة الصور شائعة الاستخدام. البرنامج سهل الاستخدام وفعال ودقيق.


ⶠمجموعة تطوير البرامج (SDK) *اختياري

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

توفير مجموعة من الواجهات للتحكم في مجهر SEM، بما في ذلك الحصول على الصور، وإعدادات حالة التشغيل، وتشغيل/إيقاف التشغيل، والتحكم في المرحلة، وما إلى ذلك. تسمح تعريفات الواجهة الموجزة بالتطوير السريع لبرامج ونصوص تشغيل محددة للمجهر الإلكتروني، مما يتيح التتبع الآلي للمناطق ذات الاهتمام، والحصول على بيانات الأتمتة الصناعية، وتصحيح انحراف الصورة، وغيرها من الوظائف. يمكن استخدامه لتطوير البرمجيات في مجالات متخصصة مثل تحليل المشطورة، وفحص شوائب الفولاذ، وتحليل النظافة، ومراقبة المواد الخام، وما إلى ذلك.


ⶠالخريطة التلقائية *اختياري

FESEM Microscope software Auto Measure

مواصفات المجهر CIQTEK FESEM SEM5000Pro

البصريات الإلكترونية القرار

0.8 نانومتر عند 15 كيلو فولت، SE

1.2 نانومتر عند 1.0 كيلو فولت، SE

جهد التسارع 0.02 كيلو فولت ~ 30 كيلو فولت
التكبير (بولارويد) 1 ~ 2,500,000 ×
نوع المسدس الإلكتروني مسدس شوتكي للانبعاث الإلكتروني
غرفة العينات الكاميرا كاميرات مزدوجة (ملاحة بصرية + مراقبة الغرفة)
نطاق المرحلة

X: 110 ملم، Y: 110 ملم، Z: 50 ملم

ت: -10°ï½ +70°، يمين: 360°

كاشفات وملحقات SEM قياسي

كاشف الإلكترون إنلينس

كاشف إيفرهارت-ثورنلي (ETD)

اختياري

كاشف الإلكترونات المرتد القابل للسحب (BSED)

المجهر الإلكتروني المسحي القابل للسحب (STEM)

كاشف فراغ منخفض ï¼LVDï¼

مطيافية تشتت الطاقة (EDS/EDX)

نمط حيود التشتت الخلفي للإلكترون (EBSD)

قفل تبادل العينات: ¼4 بوصة /8 بوصة)

لوحة تحكم كرة التتبع والمقبض

البرمجيات اللغة الإنجليزية
نظام التشغيل ويندوز
الملاحة التنقل البصري، التنقل السريع بالإيماءات، كرة التتبع (اختياري)
الوظائف التلقائية السطوع والتباين التلقائي، التركيز التلقائي، الوصمة التلقائية

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم
منتجات ذات صله
fib sem microscopy

المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني (FE-SEM) مع أعمدة الشعاع الأيوني المركز (FIB) يحتوي CIQTEK DB550 على المجهر الإلكتروني لمسح الشعاع الأيوني المركّز (FIB-SEM) على عمود شعاع أيوني مركّز لتحليل النانو وإعداد العينات. إنه يستخدم تقنية البصريات الإلكترونية "النفق الفائق"، وانحراف منخفض وتصميم موضوعي غير مغناطيسي، وله ميزة "الجهد المنخفض والدقة العالية" لضمان قدراته التحليلية النانوية. تسهل الأعمدة الأيونية مصدر أيون المعدن السائل Ga+ مع حزم أيونية عالية الجودة ومستقرة للغاية لضمان قدرات التصنيع النانوي. DB550 عبارة عن محطة عمل متكاملة لتحليل وتصنيع النانو مع معالج نانو متكامل ونظام حقن الغاز وبرنامج واجهة المستخدم الرسومية سهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
field emission scanning electron microscope fe sem

المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني التحليلي (FESEM) ذو الشعاع الكبير I CIQTEK SEM4000Pro هو نموذج تحليلي لـ FE-SEM، مزود بمسدس شوتكي الإلكتروني عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم العدسة الكهرومغناطيسية ثلاثي المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS / EDX، وEBSD، وWDS، والمزيد. إنه يأتي قياسيًا مع وضع فراغ منخفض وكاشف إلكترون ثانوي منخفض الفراغ عالي الأداء، بالإضافة إلى كاشف إلكترون منتثر خلفي قابل للسحب، مما يفيد في مراقبة العينات سيئة التوصيل أو غير موصلة.

يتعلم أكثر
scanning electron microscope machine

عالية الأداء والعالمية خيوط التنغستن SEM المجهر يعد مجهر CIQTEK SEM3200 SEM مجهرًا إلكترونيًا ممتازًا لمسح خيوط التنغستن (SEM) للأغراض العامة مع إمكانات شاملة متميزة. ويضمن هيكل المسدس الإلكتروني الفريد ثنائي الأنود دقة عالية ويحسن نسبة إشارة الصورة إلى الضوضاء عند جهد كهربائي منخفض. علاوة على ذلك، فهو يقدم مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 أداة تحليلية متعددة الاستخدامات ذات قابلية استهلاك ممتازة.

يتعلم أكثر
sem microscope price

اقرأ CIQTEK SEM المجاهر رؤى العملاء واعرف المزيد عن نقاط قوة CIQTEK وإنجازاتها باعتبارها الشركة الرائدة في صناعة SEM! البريد الإلكتروني: info@ciqtek.com

يتعلم أكثر
قمة

ترك رسالة

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم

بيت

منتجات

محادثة

اتصال