field emission sem price
field emission sem price

FESEM | SEM4000X

مستقر، متعدد الاستخدامات، مرن، وفعال

ال CIQTEK SEM4000X هو مستقر ومتعدد الاستخدامات ومرن وفعال المجهر الإلكتروني الماسح ذو الانبعاث الميداني (FE-SEM) يحقق هذا الجهاز دقة تصل إلى 1.8 نانومتر عند جهد 1.0 كيلوفولت، ويتغلب بسهولة على تحديات التصوير عالي الدقة لمختلف أنواع العينات. ويمكن ترقيته بوضع تباطؤ فائق للشعاع لتعزيز دقة الجهد المنخفض بشكل أكبر.

يستخدم المجهر تقنية متعددة الكواشف، حيث يحتوي على كاشف إلكتروني داخل العمود (UD) قادر على رصد إشارات الإلكترونات الثانوية (SE) والإلكترونات المرتدة (BSE) مع توفير دقة عالية. أما الكاشف الإلكتروني المثبت في الحجرة (LD) فيتضمن وميضًا بلوريًا وأنابيب مضاعفة ضوئية، مما يوفر حساسية وكفاءة أعلى، وينتج عنه صور مجسمة بجودة ممتازة. تتميز واجهة المستخدم الرسومية بسهولة الاستخدام، وتتضمن وظائف أتمتة مثل السطوع والتباين التلقائيين، والتركيز التلقائي، والتصحيح التلقائي للتباين، والمحاذاة التلقائية، مما يسمح بالتقاط صور فائقة الدقة بسرعة.

البصريات الإلكترونية

sem Electron Optics

برنامج تحليل الجسيمات والمسام (الجسيمات) *اختياري

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

يستخدم برنامج مجهر CIQTEK SEM خوارزميات متنوعة للكشف عن الأهداف وتقسيمها، وهي مناسبة لأنواع مختلفة من عينات الجسيمات والمسام. فهو يُمكّن من التحليل الكمي لإحصائيات الجسيمات والمسام، ويمكن تطبيقه في مجالات مثل علم المواد والجيولوجيا وعلوم البيئة


برنامج معالجة الصور اللاحقة *اختياري

SEM Microscope Image Post-processing Software

قم بإجراء معالجة لاحقة للصور عبر الإنترنت أو دون اتصال بالإنترنت على الصور الملتقطة بواسطة المجاهر الإلكترونية، وقم بدمج وظائف معالجة صور المجهر الإلكتروني شائعة الاستخدام، وأدوات القياس والتعليق المريحة


القياس التلقائي *اختياري

SEM Microscope software Auto Measure

التعرف التلقائي على حواف عرض الخط، مما يؤدي إلى قياسات أكثر دقة واتساقًا أعلى. يدعم أوضاعًا متعددة للكشف عن الحواف، مثل الخط والمسافة والخطوة، وما إلى ذلك. متوافق مع تنسيقات صور متعددة ومجهز بوظائف معالجة الصور اللاحقة الشائعة الاستخدام. البرنامج سهل الاستخدام وفعال ودقيق


مجموعة تطوير البرمجيات (SDK) *اختياري

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

يوفر هذا النظام مجموعة من واجهات التحكم في مجهر المسح الإلكتروني، بما في ذلك التقاط الصور، وإعدادات ظروف التشغيل، وتشغيل/إيقاف الطاقة، والتحكم في المنصة، وغيرها. تتيح تعريفات الواجهات الموجزة التطوير السريع لبرامج تشغيل مجهر المسح الإلكتروني، مما يُمكّن من التتبع الآلي للمناطق المهمة، وجمع بيانات الأتمتة الصناعية، وتصحيح انحراف الصورة، ووظائف أخرى. يمكن استخدامه لتطوير البرامج في مجالات متخصصة مثل تحليل الدياتومات، وفحص شوائب الصلب، وتحليل النظافة، ومراقبة المواد الخام، وغيرها.


AutoMap *اختياري

FESEM Microscope software Auto Measure

مواصفات مجهر CIQTEK SEM4000X FESEM
البصريات الإلكترونية دقة 0.9 نانومتر عند 30 كيلو فولت، SE
1.0 نانومتر عند 15 كيلو فولت، SE
1.8 نانومتر عند 1 كيلو فولت، SE
1.5 نانومتر عند 1 كيلو فولت (تباطؤ الحزمة الفائقة)
0.8 نانومتر عند 15 كيلو فولت (تباطؤ الحزمة الفائقة)
جهد التسارع 0.2 كيلو فولت ~ 30 كيلو فولت
التكبير (بولارويد) 1 ~ 1,000,000 ×
نوع مسدس الإلكترون مدفع إلكتروني ذو انبعاث حقلي من نوع شوتكي
غرفة العينات آلة تصوير كاميرات مزدوجة (ملاحة بصرية + مراقبة الحجرة)
نطاق المسرح

X: 110 مم

Y: 110 مم

Z: 65 مم

درجة الحرارة: من -10° إلى +70°

نصف القطر: 360 درجة

أجهزة الكشف وملحقاتها في المجهر الإلكتروني الماسح معيار

كاشف الإلكترونات داخل العدسة: UD-BSE/UD-SE

كاشف إيفرت-ثورنلي: LD

خياري

كاشف الإلكترونات المتناثرة للخلف (BSED)

كاشف المجهر الإلكتروني الماسح النافذ القابل للسحب (STEM)

كاشف الفراغ المنخفض (LVD)

مطياف تشتت الطاقة (EDS / EDX)

نمط حيود الإلكترونات المرتدة (EBSD)

قفل تبديل العينات (4 بوصة / 8 بوصة)

لوحة تحكم بكرة التتبع والمقبض

تقنية وضع التباطؤ بالأشعة فوق البنفسجية

واجهة المستخدم لغة إنجليزي
نظام التشغيل ويندوز
ملاحة نظام الملاحة البصرية، نظام الملاحة السريعة بالإيماءات، كرة التتبع (اختياري)
الوظائف التلقائية السطوع والتباين التلقائيان، والتركيز التلقائي، وتصحيح التصبغ التلقائي
ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
موضوع : FESEM | SEM4000X
يُقدِّم
منتجات ذات صله
fib sem microscopy

جا + مجهر مسح إلكتروني بإصدار مجال حزمة الأيونات المركزة ال مجهر مسح إلكتروني بشعاع أيوني مركّز CIQTEK DB550 (FIB-SEM) يتميز بعمود شعاع أيوني مُركّز للتحليل النانوي وتحضير العينات. ويستخدم تقنية بصريات الإلكترونات "النفقية الفائقة"، وتصميمًا منخفض الانحراف، وعدسة غير مغناطيسية، ويتميز بخاصية "الجهد المنخفض، الدقة العالية" لضمان قدراته التحليلية النانوية. تسهل أعمدة الأيونات عملية Ga + مصدر أيونات معدنية سائلة بحزم أيونية عالية الجودة ومستقرة للغاية لضمان قدرات التصنيع النانوي. DB550 هو محطة عمل متكاملة للتحليل والتصنيع النانوي، مزودة بمعالج نانوي متكامل، ونظام حقن غاز، وبرنامج واجهة مستخدم رسومية سهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
fesem edx

مجهر مسح إلكتروني عالي الدقة بانبعاث المجال (FESEM) ال سيكتيك SEM5000X مجهر FESEM فائق الدقة بتصميم عمود بصري إلكتروني مُحسّن، يُقلل الانحرافات الكلية بنسبة 30%، محققًا دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت. دقته العالية واستقراره يجعله مفيدًا في أبحاث المواد النانوية الهيكلية المتقدمة، بالإضافة إلى تطوير وتصنيع رقائق الدوائر المتكاملة شبه الموصلة عالية التقنية.

يتعلم أكثر
scanning electron microscope machine

خيوط التنغستن عالية الأداء وعالمية SEM مجهر ال مجهر المسح الإلكتروني CIQTEK SEM3200 مجهر مسح إلكتروني (SEM) ممتاز متعدد الأغراض مصنوع من خيوط التنغستن، يتميز بقدرات إجمالية فائقة. يضمن تصميمه الفريد المزود بمدفع إلكتروني ثنائي الأنود دقة عالية، ويُحسّن نسبة الإشارة إلى الضوضاء في الصورة عند جهد إثارة منخفض. علاوة على ذلك، يوفر مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 جهازًا تحليليًا متعدد الاستخدامات وقابلًا للتوسعة بشكل ممتاز.

يتعلم أكثر
sem microscope price

اقرأ CIQTEK مجهر المسح الإلكتروني المجاهر رؤى العملاء و تعرف على المزيد حول نقاط القوة والإنجازات التي حققتها شركة CIQTEK باعتبارها الشركة الرائدة في صناعة SEM! بريد إلكتروني: info@ciqtek.com

يتعلم أكثر
قمة

ترك رسالة

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم

بيت

منتجات

محادثة

اتصال