sem microscope for sale

خيوط التنغستن SEM | سيم2100

سهل الاستخدام خيوط التنغستن المدمجة المجهر الإلكتروني الماسح

ال مجهر المسح الإلكتروني CIQTEK SEM2100 يتميز جهاز SEM2100 بعملية تشغيل مبسطة، ويلتزم بمعايير الصناعة وعادات المستخدم في تصميم "واجهة المستخدم". على الرغم من بساطة واجهة البرنامج، إلا أنه يوفر وظائف آلية شاملة، وأدوات قياس وشرح، وإمكانيات إدارة ما بعد معالجة الصور، وتصفحًا بصريًا للصور، وغيرها الكثير. يُجسّد تصميم SEM2100 تمامًا مفهوم "البساطة دون التضحية بالوظائف".

الملاحة البصرية

يسمح استخدام كاميرا حجرة مثبتة رأسياً لالتقاط صور بصرية للتنقل في مرحلة العينة بتحديد موضع العينة بشكل أكثر دقة وبديهية.


▶تصحيح الاستجماتيزم باستخدام الصور المساعدة الذكية

في هذا الوضع، تتغير قيمة الاستجماتيزم لـ X وY باختلاف وحدات البكسل. وتبلغ وضوح الصورة أقصاها عند قيمة الاستجماتيزم المثلى، مما يتيح ضبط الاستجماتيزم بسرعة.


وظائف السيارات

تحسين وظائف السطوع والتباين التلقائي، والتركيز التلقائي، وتصحيح الاستجماتيزم التلقائي. تصوير بنقرة واحدة!

>> التركيز التلقائي

>> تصحيح الاستجماتيزم التلقائي

>> السطوع والتباين التلقائي


أكثر أمانًا للاستخدام


استبدال سهل للخيوط

وحدة خيوط بديلة محاذاة مسبقًا وجاهزة للاستخدام.

برنامج تحليل الجسيمات والمسام (الجسيمات) *خياري

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

يستخدم برنامج المجهر SEM CIQTEK خوارزميات مختلفة لكشف الأهداف وتقسيمها، وهو مناسب لأنواع مختلفة من عينات الجسيمات والمسام. كما أنه يتيح التحليل الكمي لإحصائيات الجسيمات والمسام ويمكن تطبيقه في مجالات مثل علم المواد والجيولوجيا وعلوم البيئة.


برنامج معالجة الصور اللاحقة

SEM Microscope Image Post-processing Software

قم بإجراء معالجة لاحقة للصور عبر الإنترنت أو دون الاتصال بالإنترنت على الصور الملتقطة بواسطة المجاهر الإلكترونية ودمج وظائف معالجة الصور EM المستخدمة بشكل شائع وأدوات القياس والتعليق التوضيحي المريحة.


القياس التلقائي *خياري

SEM Microscope software Auto Measure

التعرف التلقائي على حواف عرض الخطوط، مما يُحسّن دقة القياسات وثباتها. يدعم أوضاعًا متعددة لكشف الحواف، مثل الخط، والمسافة، والخطوة، وغيرها. متوافق مع تنسيقات صور متعددة، ومجهز بوظائف معالجة لاحقة شائعة الاستخدام. يتميز البرنامج بسهولة الاستخدام والكفاءة والدقة.


مجموعة تطوير البرمجيات (SDK) *خياري

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

يوفر مجموعة من الواجهات للتحكم في مجهر المسح الإلكتروني، بما في ذلك التقاط الصور، وإعدادات ظروف التشغيل، والتشغيل/الإيقاف، والتحكم في المرحلة، وغيرها. تتيح تعريفات الواجهات الموجزة التطوير السريع لبرامج تشغيل وبرامج خاصة بالمجهر الإلكتروني، مما يتيح التتبع الآلي للمناطق ذات الاهتمام، وجمع بيانات الأتمتة الصناعية، وتصحيح انحراف الصور، وغيرها من الوظائف. يمكن استخدامه لتطوير البرامج في مجالات متخصصة مثل تحليل الدياتومات، وفحص شوائب الفولاذ، وتحليل النظافة، ومراقبة المواد الخام، وغيرها.


خريطة تلقائية *خياري


مجهر المسح الإلكتروني CIQTEK SEM2100
البصريات الإلكترونية دقة 3.9 نانومتر عند 20 كيلو فولت، جنوب شرق
4.5 نانومتر عند 20 كيلو فولت، BSE
تسريع الجهد 0.5 كيلو فولت ~ 30 كيلو فولت
التكبير (البولارويد) 1 × ~ 300000 ×
غرفة العينة آلة تصوير الملاحة البصرية
مراقبة الغرفة
نوع المرحلة 3 محاور، محور XYZ متوافق مع الفراغ بمحرك
نطاق XY 125 ملم
مجموعة Z 50 ملم
أجهزة الكشف المجهر الإلكتروني معيار كاشف إيفرهارت-ثورنلي (ETD)
خياري كاشف الإلكترونات المتناثرة القابلة للسحب (BSED)
مطياف تشتت الطاقة (EDS / EDX)
نمط حيود الإلكترونات المتناثرة للخلف (EBSD)
خياري قفل تبادل العينات
لوحة التحكم بكرة التتبع والمقبض
واجهة المستخدم نظام التشغيل ويندوز
ملاحة الملاحة البصرية، الملاحة السريعة بالإيماءات، كرة التتبع (اختياري)
الوظائف التلقائية السطوع والتباين التلقائي، التركيز التلقائي، التشويش التلقائي
ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم
منتجات ذات صله
fib sem microscopy

مجهر مسح إلكتروني بإشعاع مجال حزمة أيونات مُركّزة على Ga+ ال مجهر مسح إلكتروني بشعاع أيوني مركّز CIQTEK DB550 (FIB-SEM) يحتوي على عمود شعاع أيوني مُركّز للتحليل النانوي وتحضير العينات. يستخدم تقنية بصريات الإلكترونات "النفقية الفائقة"، وتصميمًا منخفض الانحراف، وعدسة غير مغناطيسية، ويتميز بخاصية "الجهد المنخفض، الدقة العالية" لضمان قدراته التحليلية النانوية. تُسهّل أعمدة الأيونات مصدر أيونات معدنية سائلة من Ga+، مع حزم أيونات عالية الجودة وثبات عالٍ، لضمان قدرات التصنيع النانوي. DB550 هو محطة عمل متكاملة للتحليل والتصنيع النانوي، مزودة بمعالج نانوي متكامل، ونظام حقن غاز، وبرنامج واجهة مستخدم رسومية سهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
sem electron microscope

عالية السرعة انبعاث ميداني آلي بالكامل المجهر الإلكتروني الماسح محطة عمل سيكتيك HEM6000 تقنيات المرافق مثل مدفع الإلكترون الحالي عالي السطوع ذو الشعاع الكبير، ونظام انحراف شعاع الإلكترون عالي السرعة، وتباطؤ مرحلة العينة عالية الجهد، والمحور البصري الديناميكي، والعدسة الموضوعية الكهرومغناطيسية والكهربائية الساكنة للغمر لتحقيق اكتساب الصور عالية السرعة مع ضمان الدقة على نطاق النانو. صُممت عملية التشغيل الآلي لتطبيقات مثل سير عمل تصوير عالي الدقة وأكثر كفاءةً وذكاءً لمساحات واسعة. وتُعد سرعة التصوير أسرع بخمس مرات من سرعة مجهر المسح الإلكتروني الانبعاثي الميداني التقليدي (FESEM).

يتعلم أكثر
fesem edx

مجهر مسح إلكتروني عالي الدقة بانبعاث المجال (FESEM) ال سيكتيك SEM5000X مجهر FESEM فائق الدقة بتصميم عمود بصري إلكتروني مُحسّن، يُقلل الانحرافات الكلية بنسبة 30%، محققًا دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت. دقته العالية واستقراره يجعله مفيدًا في أبحاث المواد النانوية الهيكلية المتقدمة، بالإضافة إلى تطوير وتصنيع رقائق الدوائر المتكاملة شبه الموصلة عالية التقنية.

يتعلم أكثر
field emission scanning electron microscopy

دقة عالية تحت إثارة منخفضة ال سيكتيك SEM5000Pro هو شوتكي عالي الدقة مجهر مسح إلكتروني بالانبعاث الميداني (FE-SEM) متخصصون في الدقة العالية حتى في ظل جهد إثارة منخفض. استخدام تقنية بصريات إلكترونية متطورة "النفق الفائق" يُسهّل مسار شعاع خالٍ من التداخل، وتصميم عدسة مُركّبة كهروستاتيكية-كهرومغناطيسية. تعمل هذه التطورات على تقليل تأثير الشحن المكاني، وتقليل انحرافات العدسات، وتعزيز دقة التصوير عند الجهد المنخفض، وتحقيق دقة 1.2 نانومتر عند 1 كيلو فولت، مما يسمح بالمراقبة المباشرة للعينات غير الموصلة أو شبه الموصلة، مما يقلل بشكل فعال من الضرر الناتج عن إشعاع العينة.

يتعلم أكثر
field emission scanning electron microscope fe sem

تحليلي شوتكي مجهر مسح الانبعاث الميداني الإلكتروني (FESEM) سيكتيك SEM4000Pro هو نموذج مجهر مسح إلكتروني تحليلي FE-SEM مزود بمدفع إلكترونات شوتكي عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم عدساته الكهرومغناطيسية ثلاثية المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS/EDX، وEBSD، وWDS، وغيرها. يأتي النموذج قياسيًا مع وضع الفراغ المنخفض وكاشف إلكترونات ثانوي عالي الأداء ومنخفض الفراغ، بالإضافة إلى كاشف إلكترونات مرتد قابل للسحب، مما يُسهّل رصد العينات ضعيفة التوصيل أو غير الموصلة.

يتعلم أكثر
field emission sem price

مستقرة، متعددة الاستخدامات، مرنة، وفعالة ال سيكتيك SEM4000X هو مستقر ومتعدد الاستخدامات ومرن وفعال مجهر مسح إلكتروني بالانبعاث الميداني (FE-SEM) تبلغ دقة هذا الجهاز 1.9 نانومتر عند 1.0 كيلو فولت، ويتغلب بسهولة على تحديات التصوير عالي الدقة لمختلف أنواع العينات. ويمكن ترقيته بوضع إبطاء الشعاع الفائق لتحسين دقة الجهد المنخفض بشكل أكبر. يستخدم المجهر تقنية الكواشف المتعددة، مع كاشف إلكترون عمودي (UD) قادر على اكتشاف إشارات SE وBSE مع توفير أداء عالي الدقة. يتضمن كاشف الإلكترونات المثبت على الحجرة (LD) أنبوبي وميض بلوري ومضاعف ضوئي، مما يوفر حساسية وكفاءة أعلى، وينتج صورًا مجسمة بجودة ممتازة. واجهة المستخدم الرسومية سهلة الاستخدام، وتتميز بوظائف أتمتة مثل السطوع والتباين التلقائي، والتركيز التلقائي، والتشويش التلقائي، والمحاذاة التلقائية، مما يسمح بالتقاط صور فائقة الدقة بسرعة.

يتعلم أكثر
scanning electron microscope market

دقة عالية جدًا مجهر مسح إلكتروني بخيوط التنغستن ال سيكتيك SEM3300 المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) يتضمن تقنيات مثل بصريات الإلكترونات "النفق الفائق"، وكاشفات الإلكترونات داخل العدسة، والعدسات الشيئية المركبة الكهروستاتيكية والكهرومغناطيسية. بتطبيق هذه التقنيات على مجهر خيوط التنغستن، يتم تجاوز حد الدقة الثابت لهذا المجهر، مما يُمكّن مجهر خيوط التنغستن من إجراء تحليلات منخفضة الجهد لم تكن تُنجز سابقًا إلا باستخدام مجهرات الانبعاث الميداني.

يتعلم أكثر
scanning electron microscope machine

خيوط التنغستن عالية الأداء وعالمية SEM مجهر ال مجهر المسح الإلكتروني CIQTEK SEM3200 مجهر مسح إلكتروني (SEM) متعدد الأغراض ممتاز مصنوع من خيوط التنغستن، يتميز بقدرات إجمالية فائقة. يضمن تصميمه الفريد المزود بمدفع إلكتروني ثنائي الأنود دقة عالية، ويُحسّن نسبة الإشارة إلى الضوضاء في الصورة عند جهد إثارة منخفض. علاوة على ذلك، يوفر مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 جهازًا تحليليًا متعدد الاستخدامات وسهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
قمة

ترك رسالة

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم

بيت

منتجات

محادثة

اتصال