sem microscope price

قصص عملاء مجاهر CIQTEK SEM

اقرأ CIQTEK SEM المجاهر رؤى العملاء واعرف المزيد عن نقاط قوة CIQTEK وإنجازاتها باعتبارها الشركة الرائدة في صناعة SEM!

البريد الإلكتروني: info@ciqtek.com

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم
منتجات ذات صله
fib sem microscopy

المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني (FE-SEM) مع أعمدة الشعاع الأيوني المركز (FIB) يحتوي CIQTEK DB550 على المجهر الإلكتروني لمسح الشعاع الأيوني المركّز (FIB-SEM) على عمود شعاع أيوني مركّز لتحليل النانو وإعداد العينات. إنه يستخدم تقنية البصريات الإلكترونية "النفق الفائق"، وانحراف منخفض وتصميم موضوعي غير مغناطيسي، وله ميزة "الجهد المنخفض والدقة العالية" لضمان قدراته التحليلية النانوية. تسهل الأعمدة الأيونية مصدر أيون المعدن السائل Ga+ مع حزم أيونية عالية الجودة ومستقرة للغاية لضمان قدرات التصنيع النانوي. DB550 عبارة عن محطة عمل متكاملة لتحليل وتصنيع النانو مع معالج نانو متكامل ونظام حقن الغاز وبرنامج واجهة المستخدم الرسومية سهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
sem electron microscope

مجهر إلكتروني ماسح عالي السرعة للتصوير على نطاق واسع للحجم الكبير للعينات CIQTEK HEM6000 مرافق تقنيات مثل المسدس الإلكتروني ذو الشعاع الكبير عالي السطوع، ونظام انحراف شعاع الإلكترون عالي السرعة، وتباطؤ مرحلة العينة عالية الجهد، والمحور البصري الديناميكي، والعدسة الموضوعية الكهرومغناطيسية والكهروستاتيكية المغمورة لتحقيق الحصول على صور عالية السرعة مع ضمان دقة النانو. تم تصميم عملية التشغيل الآلي لتطبيقات مثل سير عمل التصوير عالي الدقة لمساحة كبيرة أكثر كفاءة وذكاءً. يمكن أن تصل سرعة التصوير إلى أكثر من 5 مرات أسرع من المجهر الإلكتروني التقليدي الماسح للانبعاثات الميدانية (FESEM).

يتعلم أكثر
fesem edx

الفحص المجهري الإلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية عالي الدقة (FESEM)يتحدى الحدود CIQTEK SEM5000X عبارة عن FESEM عالي الدقة مع تصميم عمود بصريات إلكتروني محسّن، مما يقلل الانحرافات الإجمالية بنسبة 30%، ويحقق دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت . إن دقتها العالية واستقرارها يجعلها مفيدة في أبحاث المواد الهيكلية النانوية المتقدمة، فضلاً عن تطوير وتصنيع رقائق IC لأشباه الموصلات ذات التقنية العالية.

يتعلم أكثر
field emission scanning electron microscopy

دقة عالية في ظل الإثارة المنخفضة CIQTEK SEM5000Pro هو مجهر إلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية (FE-SEM) من شوتكي متخصص في الدقة العالية حتى في ظل جهد الإثارة المنخفض. إن استخدام تقنية البصريات الإلكترونية المتقدمة "Super-Tunnel" يسهل مسار شعاع خالي من التقاطع مع تصميم عدسة مركبة كهرومغناطيسية كهروستاتيكية. تقلل هذه التطورات من تأثير الشحن المكاني، وتقلل من انحرافات العدسة، وتعزز دقة التصوير عند الجهد المنخفض، وتحقق دقة تبلغ 1.2 نانومتر عند 1 كيلو فولت، مما يسمح بالمراقبة المباشرة للعينات غير الموصلة أو شبه الموصلة، مما يقلل العينة بشكل فعال أضرار الإشعاع.

يتعلم أكثر
field emission scanning electron microscope fe sem

المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني التحليلي (FESEM) ذو الشعاع الكبير I CIQTEK SEM4000Pro هو نموذج تحليلي لـ FE-SEM، مزود بمسدس شوتكي الإلكتروني عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم العدسة الكهرومغناطيسية ثلاثي المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS / EDX، وEBSD، وWDS، والمزيد. إنه يأتي قياسيًا مع وضع فراغ منخفض وكاشف إلكترون ثانوي منخفض الفراغ عالي الأداء، بالإضافة إلى كاشف إلكترون منتثر خلفي قابل للسحب، مما يفيد في مراقبة العينات سيئة التوصيل أو غير موصلة.

يتعلم أكثر
scanning electron microscope machine

عالية الأداء والعالمية خيوط التنغستن SEM المجهر يعد مجهر CIQTEK SEM3200 SEM مجهرًا إلكترونيًا ممتازًا لمسح خيوط التنغستن (SEM) للأغراض العامة مع إمكانات شاملة متميزة. ويضمن هيكل المسدس الإلكتروني الفريد ثنائي الأنود دقة عالية ويحسن نسبة إشارة الصورة إلى الضوضاء عند جهد كهربائي منخفض. علاوة على ذلك، فهو يقدم مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 أداة تحليلية متعددة الاستخدامات ذات قابلية استهلاك ممتازة.

يتعلم أكثر
قمة

ترك رسالة

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم

بيت

منتجات

محادثة

اتصال