ما الذي تبحث عنه؟?
عمليات البحث الشعبية
Products
Products
CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-value scientific instruments, such as Scanning Electron Microscopes (SEM and FIB-SEM), Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance) Spectroscopy, Scanning NV Probe Microscope, Gas Adsorption Analyzer, etc.
field emission scanning electron microscope fe sem

فيسم | SEM4000Pro

المجهر الإلكتروني الماسح للانبعاث الميداني التحليلي (FESEM) المجهز بمدفع شوتكي الإلكتروني عالي السطوع وطويل العمر

من خلال تصميم عمود البصريات الإلكترونية المكثف ثلاثي المراحل لتيارات الشعاع التي تصل إلى 200 nA، يوفر SEM4000Pro مزايا في EDS، وEBSD، وWDS، والتطبيقات التحليلية الأخرى. يدعم النظام وضع التفريغ المنخفض بالإضافة إلى كاشف إلكترون ثانوي منخفض التفريغ عالي الأداء وكاشف الإلكترونات المرتدة القابلة للسحب، والذي يمكن أن يساعد بشكل مباشر في مراقبة العينات ذات التوصيل السيئ أو حتى غير الموصلة.

يعمل وضع التنقل البصري القياسي وواجهة تشغيل المستخدم البديهية على تسهيل عملية التحليل.

مطلوب الان

• مزود بمسدس شوتكي الإلكتروني ذو السطوع العالي وعمر الخدمة الطويل

• دقة عالية تبلغ 0.9 نانومتر عند 30 كيلو فولت

• تصميم عدسة مكثف ثلاثي المراحل، نطاق تيار عريض قابل للتعديل مع أقصى تيارات شعاع تصل إلى 200 نانومتر

• وضع الفراغ المنخفض القياسي، وكاشف إلكترون ثانوي منخفض الفراغ عالي الأداء، وكاشف الإلكترونات المرتدة القابلة للسحب

• تصميم عدسة موضوعية خالية من المجال المغناطيسي غير المغمور، يمكنها مراقبة العينات المغناطيسية مباشرة

• وضع التنقل البصري القياسي

المعلمات الرئيسية القرار فراغ عالي

0.9 نانومتر عند 30 كيلو فولت، SE
فراغ منخفض

2.5 نانومتر عند 30 كيلو فولت، مرض جنون البقر، 30 باسكال

1.5 نانومتر عند 30 كيلو فولت، SE، 30 باسكال
جهد التسارع 0.2 ~ 30 كيلو فولت
التكبير 1 ~ 1,000,000 ×
نوع المسدس الإلكتروني مسدس الإلكترون ذو الانبعاث الميداني شوتكي عالي السطوع
غرفة العينات نظام الفراغ التحكم الآلي بالكامل
فراغ منخفض (اختياري) ماكس 180 باسكال
الكاميرا كاميرات مزدوجة (ملاحة بصرية + مراقبة الغرفة)
المسافة

X: 110 ملم

ص: 110 ملم

ز: 65 ملم

ت: -10°~ +70°

ص: 360 درجة
الكاشفات والإضافات قياسي

كاشف إيفرهارت-ثورنلي (ETD)

جهاز كشف الفراغ المنخفض (LVD)

كاشف الإلكترونات المرتدة (BSED)

اختياري

كاشف العلوم والتكنولوجيا والهندسة والرياضيات

مطياف تشتت الطاقة (EDS)

نمط حيود التشتت الخلفي للإلكترون (EBSD)

قفل تحميل تبادل العينات

لوحة تحكم كرة التتبع والمقبض
البرمجيات اللغة الإنجليزية
نظام التشغيل ويندوز
الملاحة كاميرا التنقل، التنقل السريع بالإيماءات
الوظائف التلقائية السطوع والتباين التلقائي، التركيز التلقائي، الوصمة التلقائية

العلامات الساخنة : المورد العالمي للمجهر الإلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية أجهزة الكشف SEM EDX، EDS، EBSD، BSE، CL، STEM FESEM عالي الدقة بأفضل الأسعار مسدس شوتكي للإلكترون عالي السطوع أفضل مجهر إلكتروني لمسح انبعاث مجال التكبير تطبيقات المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني pdf ملاحظات المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني
ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
موضوع : فيسم | SEM4000Pro
يُقدِّم
منتجات ذات صله
fib sem microscopy
FIB-SEM | دي بي 500

المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني (FE-SEM) مع أعمدة الشعاع الأيوني المركز (FIB) يعتمد المجهر الإلكتروني لمسح الشعاع الأيوني المركز CIQTEK DB500 (FIB-SEM) تقنية البصريات الإلكترونية "SuperTunnel"، وانحراف منخفض، وتصميم موضوعي غير مغناطيسي مع جهد منخفض وقدرة عالية الدقة لضمان التحليل على نطاق النانو. يسهل العمود الأيوني مصدر أيون المعدن السائل Ga+ مع شعاع أيوني عالي الثبات وعالي الجودة للتصنيع النانوي. يحتوي FIB-SEM DB500 على معالج نانو متكامل، ونظام حقن غاز، وآلية كهربائية مضادة للتلوث للعدسة الموضوعية، و24 منفذ توسيع، مما يجعلها منصة شاملة لتحليل النانو وتصنيعه مع تكوينات شاملة وقابلية للتوسيع .

يتعلم أكثر
fesem edx
دقة فائقة FESEM | SEM5000X

الفحص المجهري الإلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية عالي الدقة (FESEM): 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت يستخدم CIQTEK SEM5000X FESEM فائق الدقة عملية هندسة الأعمدة التي تمت ترقيتها، وتقنية "SuperTunnel"، وتصميم العدسة الموضوعية عالي الدقة لتحسين دقة التصوير ذات الجهد المنخفض. تمتد منافذ حجرة العينات FESEM SEM5000X إلى 16، ويدعم قفل تحميل تبادل العينات ما يصل إلى 8 بوصات من حجم الرقاقة (القطر الأقصى 208 مم)، مما يؤدي إلى توسيع التطبيقات بشكل كبير. توفر أوضاع المسح المتقدمة والوظائف الآلية المحسنة أداءً أقوى وتجربة أكثر تحسينًا.

يتعلم أكثر
scanning electron microscope machine
خيوط التنغستن SEM | سيم3200

مجهر SEM بخيوط التنغستن عالي الأداء مع إمكانات تصوير ممتازة في وضعي التفريغ العالي والمنخفض يتميز CIQTEK SEM3200 مجهر SEM بعمق كبير في المجال مع واجهة سهلة الاستخدام لتمكين المستخدمين من تمييز العينات واستكشاف عالم التصوير والتحليل المجهري.

يتعلم أكثر
sem microscope
قصص عملاء مجاهر CIQTEK SEM

اقرأ CIQTEK SEM المجاهر رؤى العملاء واعرف المزيد عن نقاط قوة CIQTEK وإنجازاتها باعتبارها الشركة الرائدة في صناعة SEM! البريد الإلكتروني: info@ciqtek.com

يتعلم أكثر
قمة

ترك رسالة
ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم

بيت

منتجات

محادثة

اتصال