field emission scanning electron microscopy

فيسيم | SEM5000Pro

دقة عالية تحت إثارة منخفضة

ال سيكتيك SEM5000Pro هو شوتكي عالي الدقة مجهر مسح إلكتروني بالانبعاث الميداني (FE-SEM) متخصصون في الدقة العالية حتى في ظل جهد إثارة منخفض. استخدام تقنية بصريات إلكترونية متطورة "النفق الفائق" يُسهّل مسار شعاع خالٍ من التداخل، وتصميم عدسة مُركّبة كهروستاتيكية-كهرومغناطيسية.

تعمل هذه التطورات على تقليل تأثير الشحن المكاني، وتقليل انحرافات العدسات، وتعزيز دقة التصوير عند الجهد المنخفض، وتحقيق دقة 1.2 نانومتر عند 1 كيلو فولت، مما يسمح بالمراقبة المباشرة للعينات غير الموصلة أو شبه الموصلة، مما يقلل بشكل فعال من الضرر الناتج عن إشعاع العينة.

البصريات الإلكترونية

sem3200 Intermittent Anode

تقنية عمود البصريات الإلكترونية "النفق الفائق"/إبطاء الشعاع داخل العدسة
تقليل تأثير الشحن المكاني، مما يضمن دقة الجهد المنخفض.

★ خالية من التقاطع في مسار شعاع الإلكترون
يقلل بشكل فعال من انحرافات العدسات ويحسن الدقة.

★ عدسة مركبة كهرومغناطيسية وكهروستاتيكية
تقليل الانحرافات، وتحسين الدقة بشكل كبير عند الفولتية المنخفضة، وتمكين مراقبة العينات المغناطيسية.

★ عدسة موضوعية ذات درجة حرارة ثابتة ومبردة بالماء
ضمان استقرار وموثوقية وإمكانية تكرار تشغيل عدسة الهدف.

★ فتحة متعددة الفتحات متغيرة مع نظام انحراف الشعاع الكهرومغناطيسي
التبديل التلقائي بين الفتحات دون حركة ميكانيكية، مما يسمح بالتبديل السريع بين أوضاع التصوير.


صور عالية الدقة منخفضة الجهد


كاشف الإلكترونات داخل العدسة / العينة


كاشف إيفرهارت-ثورنلي (ETD)


كاشف الإلكترونات المتناثرة القابلة للسحب (BSED) *خياري

FESEM Retractable Back-Scattered Electron Detector (BSED)

وضع ECCI (التصوير التبايني لتوجيه الإلكترونات) القائم على BSED

يشير "تأثير توجيه الإلكترون" إلى انخفاض كبير في تشتت الإلكترونات بواسطة الشبكات البلورية، عندما يلبي شعاع الإلكترون الساقط شرط حيود براج، مما يسمح لعدد كبير من الإلكترونات بالمرور عبر الشبكة، وبالتالي إظهار تأثير "التوجيه".

بالنسبة للمواد متعددة البلورات ذات التركيب الموحد والأسطح المستوية المصقولة، تعتمد شدة الإلكترونات المرتدة على الاتجاه النسبي بين حزمة الإلكترونات الساقطة ومستويات البلورة. تُظهر الحبيبات ذات التباين الأكبر في الاتجاه إشارات أقوى، وبالتالي صورًا أكثر سطوعًا، ويتم تحقيق توصيف نوعي باستخدام خريطة اتجاه الحبيبات هذه.


التصوير متعدد القنوات في وقت واحد عبر أجهزة الكشف المختلفة


كاشف المجهر الإلكتروني الناقل الماسح القابل للسحب (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> أوضاع التشغيل المتعددة: التصوير بالمجال الساطع (BF)، والتصوير بالمجال المظلم (DF)، والتصوير بالمجال المظلم الحلقي عالي الزاوية (HAADF)


التطورات في المجهر الإلكتروني CIQTEK - المزيد من الخيارات

>> مطيافية تشتت الطاقة

>> التوهج الكاثولوجي

>> إي بي إس دي

معرض صور ميكروسكوب CIQTEK FESEM SEM5000Pro


>> علم المواد - المواد النانوية


>> علم المواد - مواد الطاقة


>> علم المواد - مواد البوليمر والمواد المعدنية


>> المواد المغناطيسية - المواد البوليمرية والمواد المعدنية


>> مواد أشباه الموصلات


>> علوم الحياة

توصيف القزحيات في خلايا جلد السحلية، باستخدام كاشف STEM في CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

يمكن تصنيف ألوان الحيوانات في الطبيعة إلى فئتين بناءً على آليات تكوينها: ألوان الصبغة والألوان البنيوية.
يتم الحصول على ألوان الصبغة من خلال الاختلافات في تركيب الصبغة وتداخل الألوان، على غرار مبادئ "الألوان الأساسية".
من ناحية أخرى، تتولد الألوان البنيوية من انعكاس الضوء ذي الأطوال الموجية المختلفة بواسطة هياكل فسيولوجية معقدة، تعتمد أساسًا على مبادئ البصريات. تمتلك الخلايا القزحية (Iridophores)، الموجودة في خلايا جلد السحالي، هياكل مشابهة لشبكات الحيود. نُشير إلى هذه الهياكل باسم "الصفائح البلورية". تستطيع هذه الصفائح البلورية عكس وتشتيت الضوء ذي الأطوال الموجية المختلفة. وقد أظهرت الدراسات أنه من خلال تغيير حجم وتباعد وزاوية الصفائح البلورية في خلايا القزحية السحلية، يمكن تغيير أطوال موجات الضوء المشتتة والمنعكسة من جلدها. تُعد هذه النتيجة مهمة لفهم آليات تغير لون جلد السحالي.

برنامج تحليل الجسيمات والمسام (الجسيمات) *خياري

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

يستخدم برنامج المجهر SEM CIQTEK خوارزميات مختلفة لكشف الأهداف وتقسيمها، وهو مناسب لأنواع مختلفة من عينات الجسيمات والمسام. كما أنه يتيح التحليل الكمي لإحصائيات الجسيمات والمسام ويمكن تطبيقه في مجالات مثل علم المواد والجيولوجيا وعلوم البيئة.


برنامج معالجة الصور اللاحقة *خياري

SEM Microscope Image Post-processing Software

قم بإجراء معالجة لاحقة للصور عبر الإنترنت أو دون الاتصال بالإنترنت على الصور الملتقطة بواسطة المجاهر الإلكترونية ودمج وظائف معالجة الصور EM المستخدمة بشكل شائع وأدوات القياس والتعليق التوضيحي المريحة.


القياس التلقائي *خياري

SEM Microscope software Auto Measure

التعرف التلقائي على حواف عرض الخطوط، مما يُحسّن دقة القياسات وثباتها. يدعم أوضاعًا متعددة لكشف الحواف، مثل الخط، والمسافة، والخطوة، وغيرها. متوافق مع تنسيقات صور متعددة، ومجهز بوظائف معالجة لاحقة شائعة الاستخدام. يتميز البرنامج بسهولة الاستخدام والكفاءة والدقة.


مجموعة تطوير البرمجيات (SDK) *خياري

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

يوفر مجموعة من الواجهات للتحكم في مجهر المسح الإلكتروني، بما في ذلك التقاط الصور، وإعدادات ظروف التشغيل، والتشغيل/الإيقاف، والتحكم في المرحلة، وغيرها. تتيح تعريفات الواجهات الموجزة التطوير السريع لبرامج تشغيل وبرامج خاصة بالمجهر الإلكتروني، مما يتيح التتبع الآلي للمناطق ذات الاهتمام، وجمع بيانات الأتمتة الصناعية، وتصحيح انحراف الصور، وغيرها من الوظائف. يمكن استخدامه لتطوير البرامج في مجالات متخصصة مثل تحليل الدياتومات، وفحص شوائب الفولاذ، وتحليل النظافة، ومراقبة المواد الخام، وغيرها.


خريطة تلقائية *خياري

FESEM Microscope software Auto Measure

مواصفات المجهر CIQTEK FESEM SEM5000Pro

البصريات الإلكترونية دقة

0.8 نانومتر عند 15 كيلو فولت، جنوب شرق

1.2 نانومتر عند 1.0 كيلو فولت، SE

جهد التسارع 0.02 كيلو فولت ~ 30 كيلو فولت
التكبير (البولارويد) 1 ~ 2,500,000 ×
نوع البندقية الإلكترونية مدفع شوتكي لانبعاث الإلكترونات في المجال
غرفة العينة آلة تصوير كاميرات مزدوجة (نظام الملاحة البصرية + شاشة مراقبة الغرفة)
نطاق المرحلة

X: 110 مم، Y: 110 مم، Z: 65 مم

T: -10°~ +70°، R: 360°

كاشفات المجهر الإلكتروني الماسح وملحقاتها معيار

كاشف الإلكترونات داخل العدسة

كاشف إيفرهارت-ثورنلي (ETD)

خياري

كاشف الإلكترونات المتناثرة القابلة للسحب (BSED)

مجهر إلكتروني ناقل ماسح قابل للسحب (STEM)

كاشف الفراغ المنخفض (LVD)

مطيافية تشتت الطاقة (EDS / EDX)

نمط حيود التشتت الخلفي للإلكترون (EBSD)

قفل تبادل العينات (4 بوصة / 8 بوصة)

لوحة التحكم بكرة التتبع والمقبض

برمجة لغة إنجليزي
نظام التشغيل ويندوز
ملاحة الملاحة البصرية، الملاحة السريعة بالإيماءات، كرة التتبع (اختياري)
الوظائف التلقائية السطوع والتباين التلقائي، التركيز التلقائي، التشويش التلقائي

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم
منتجات ذات صله
fib sem microscopy

مجهر مسح إلكتروني بإشعاع مجال حزمة أيونات مُركّزة على Ga+ ال مجهر مسح إلكتروني بشعاع أيوني مركّز CIQTEK DB550 (FIB-SEM) يحتوي على عمود شعاع أيوني مُركّز للتحليل النانوي وتحضير العينات. يستخدم تقنية بصريات الإلكترونات "النفقية الفائقة"، وتصميمًا منخفض الانحراف، وعدسة غير مغناطيسية، ويتميز بخاصية "الجهد المنخفض، الدقة العالية" لضمان قدراته التحليلية النانوية. تُسهّل أعمدة الأيونات مصدر أيونات معدنية سائلة من Ga+، مع حزم أيونات عالية الجودة وثبات عالٍ، لضمان قدرات التصنيع النانوي. DB550 هو محطة عمل متكاملة للتحليل والتصنيع النانوي، مزودة بمعالج نانوي متكامل، ونظام حقن غاز، وبرنامج واجهة مستخدم رسومية سهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
field emission scanning electron microscope fe sem

تحليلي شوتكي مجهر مسح الانبعاث الميداني الإلكتروني (FESEM) سيكتيك SEM4000Pro هو نموذج مجهر مسح إلكتروني تحليلي FE-SEM مزود بمدفع إلكترونات شوتكي عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم عدساته الكهرومغناطيسية ثلاثية المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS/EDX، وEBSD، وWDS، وغيرها. يأتي النموذج قياسيًا مع وضع الفراغ المنخفض وكاشف إلكترونات ثانوي عالي الأداء ومنخفض الفراغ، بالإضافة إلى كاشف إلكترونات مرتد قابل للسحب، مما يُسهّل رصد العينات ضعيفة التوصيل أو غير الموصلة.

يتعلم أكثر
scanning electron microscope machine

خيوط التنغستن عالية الأداء وعالمية SEM مجهر ال مجهر المسح الإلكتروني CIQTEK SEM3200 مجهر مسح إلكتروني (SEM) متعدد الأغراض ممتاز مصنوع من خيوط التنغستن، يتميز بقدرات إجمالية فائقة. يضمن تصميمه الفريد المزود بمدفع إلكتروني ثنائي الأنود دقة عالية، ويُحسّن نسبة الإشارة إلى الضوضاء في الصورة عند جهد إثارة منخفض. علاوة على ذلك، يوفر مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 جهازًا تحليليًا متعدد الاستخدامات وسهل الاستخدام.

يتعلم أكثر
sem microscope price

اقرأ CIQTEK مجهر المسح الإلكتروني المجاهر رؤى العملاء و تعرف على المزيد حول نقاط القوة والإنجازات التي حققتها شركة CIQTEK باعتبارها الشركة الرائدة في صناعة SEM! بريد إلكتروني: info@ciqtek.com

يتعلم أكثر
قمة

ترك رسالة

ترك رسالة
لا تتردد في الاتصال بنا للحصول على مزيد من التفاصيل أو طلب عرض أسعار أو حجز عرض توضيحي عبر الإنترنت! سوف نرد عليك باسرع ما نستطيع.
يُقدِّم

بيت

منتجات

محادثة

اتصال