العرض العملي لـ CIQTEK FIB SEM - تحضير عينة النانو ميكروبيلار

عرض عملي CIQTEK FIB-SEM

المجهر الإلكتروني لمسح الشعاع الأيوني المركّز (FIB-SEM) ضروري للعديد من التطبيقات مثل تشخيص العيوب، والإصلاح، وزرع الأيونات، والمعالجة في الموقع، وإصلاح القناع، والحفر، وتعديل تصميم الدوائر المتكاملة، وتصنيع أجهزة الرقائق والمعالجة بدون قناع، وتصنيع البنية النانوية، والنقش النانوي المعقد، والتصوير ثلاثي الأبعاد وتحليل المواد، وتحليل الأسطح فائقة الحساسية، وتعديل السطح، وإعداد عينات المجهر الإلكتروني النافذ.

CIQTEK قدمت FIB-SEM DB550، والذي يتميز بمجهر إلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية (FE-SEM) يمكن التحكم فيه بشكل مستقل (FE-SEM) مع شعاع أيوني مركّز ( FIB) الأعمدة. إنها أداة تحليل نانوية أنيقة ومتعددة الاستخدامات وإعداد العينات، تعتمد تقنية البصريات الإلكترونية "SuperTunnel"، وانحراف منخفض، وتصميم موضوعي غير مغناطيسي مع جهد منخفض وقدرة عالية الدقة لضمان التحليل على نطاق النانو. يسهل العمود الأيوني مصدر أيون المعدن السائل Ga+ مع شعاع أيوني مستقر للغاية وعالي الجودة لضمان القدرة على التصنيع النانوي. يحتوي DB550 على معالج نانو متكامل، ونظام حقن غاز، وآلية كهربائية مضادة للتلوث للعدسة الشيئية، وبرنامج واجهة المستخدم الرسومية سهل الاستخدام، مما يسهل محطة عمل التحليل والتصنيع الشاملة على نطاق النانو.

لعرض الأداء المتميز لـ DB550، خططت CIQTEK لحدث خاص يسمى "العرض العملي لـ CIQTEK FIB-SEM." هذا سيقدم البرنامج مقاطع فيديو توضح التطبيقات الواسعة لهذه المعدات المتطورة في مجالات مثل علوم المواد وصناعة أشباه الموصلات والأبحاث الطبية الحيوية. سيكتسب المشاهدون فهمًا لمبادئ عمل DB550، ونقدر صورها المذهلة ذات الحجم الصغير، ونستكشف الآثار الهامة لهذه التكنولوجيا على البحث العلمي والتنمية الصناعية.

نانو ميكروبيلار Sنموذج التحضير

نموذج Nano-micropillar S تم التحضير بنجاح، مما يدل على القدرات القوية لـ CIQTEK المجهر الإلكتروني لمسح الشعاع الأيوني المركّز في المعالجة والتحليل على المستوى النانوي. يوفر أداء المنتج دعمًا دقيقًا وفعالًا ومتعدد الوسائط للاختبار للعملاء المشاركين في اختبارات ميكانيكا النانو، مما يسهل تحقيق اختراقات في أبحاث المواد.