عرض عملي CIQTEK FIB-SEM - إعداد عينة نقل من فولاذ الفريت-المارتنسيت

عرض عملي CIQTEK FIB-SEM

يعد المجهر الإلكتروني لمسح شعاع الأيونات المركزة (FIB-SEM) ضروريًا لمختلف التطبيقات مثل تشخيص العيوب، والإصلاح، وزرع الأيونات، والمعالجة في الموقع، وإصلاح القناع، والحفر، وتعديل تصميم الدوائر المتكاملة، تصنيع أجهزة الرقائق، والمعالجة بدون قناع، وتصنيع الهياكل النانوية، وأنماط النانو المعقدة، والتصوير ثلاثي الأبعاد وتحليل المواد، وتحليل الأسطح فائقة الحساسية، وتعديل السطح، وإعداد عينات المجهر الإلكتروني للإرسال.

CIQTEK FIB-SEM DB550، والذي يتميز بمجهر إلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية (FE-SEM) يمكن التحكم فيه بشكل مستقل أعمدة الشعاع الأيوني (FIB). إنها أداة تحليل نانوية أنيقة ومتعددة الاستخدامات وإعداد العينات، تعتمد تقنية البصريات الإلكترونية "SuperTunnel"، وانحراف منخفض، وغير تصميم موضوعي مغناطيسي بجهد منخفض وقدرة عالية الدقة لضمان التحليل على نطاق النانو. يسهل العمود الأيوني مصدر أيون المعدن السائل Ga+ مع شعاع أيوني مستقر للغاية وعالي الجودة لضمان القدرة على التصنيع النانوي. يحتوي DB550 على معالج نانو متكامل، ونظام حقن الغاز، وآلية كهربائية مضادة للتلوث للعدسة الموضوعية، وبرنامج GUI سهل الاستخدام، مما يسهل تحليل وتصنيع الكل في واحد على المستوى النانوي محطة عمل.

لعرض الأداء المتميز لـ DB550، خططت CIQTEK لحدث خاص يسمى "العرض العملي لـ CIQTEK FIB-SEM." سيقدم هذا البرنامج مقاطع فيديو توضح التطبيقات الواسعة لهذه المعدات المتطورة في مجالات مثل علوم المواد، وصناعة أشباه الموصلات، والبحوث الطبية الحيوية. سوف يكتسب المشاهدون فهمًا لمبادئ عمل DB550، ويقدرون صورها المذهلة ذات الحجم الصغير، ويستكشفون الآثار المهمة لهذه التكنولوجيا على البحث العلمي والتنمية الصناعية.

تحضير عينة ناقل الحركة من فولاذ الفريت-المارتنسيت

FIB-SEM DB550 تم تطويره بواسطة CIQTEK ويمتلك القدرة على إعداد عينات نقل من فولاذ الفريت-المارتنسيت بشكل لا تشوبه شائبة. تمكن هذه القدرة الباحثين في مجال النانو من مراقبة خصائص الواجهة بشكل مباشر، وتشكل البنية المجهرية، وعملية تطور مراحل الفريت والمارتنسيت. تعتبر هذه الملاحظات خطوات حاسمة نحو تعميق فهم العلاقة بين حركية تحويل الطور، والتنظيم المجهري، والخواص الميكانيكية لفولاذ الفريت مارتنز.