عرضت شركة CIQTEK حلول المجهر الإلكتروني في معرض جمعية المعادن والمواد (TMS) 2026، الولايات المتحدة الأمريكية

March 18, 2026

سيكتيك شارك في الاجتماع والمعرض السنوي لجمعية إدارة المواد 2026 ، الذي عُقد في الفترة من 15 إلى 19 مارس 2026 في سان دييغو، كاليفورنيا، الولايات المتحدة الأمريكية. وقد رحّب فريقنا الأمريكي وشريك التوزيع المحلي بالزوار في الكشك رقم 307 ، حيث قدمنا أحدث منتجاتنا محاليل المجهر الإلكتروني لتطبيقات علم المواد.

CIQTEK at TMS 2026 | SEM Solutions in the USA

حول نظام إدارة النقل 2026

من تنظيم جمعية المعادن والمواد (TMS) يُعد هذا الاجتماع السنوي حدثاً رئيسياً لمجتمع علوم المواد العالمي، إذ يجمع الباحثين والمهندسين والمتخصصين في الصناعة العاملين في مجالات مثل علم المعادن، والمواد المتقدمة، والتصنيع الإضافي، وتقنيات توصيف المواد.

يوفر هذا الحدث منصة قوية لتبادل الأفكار واكتشاف التقنيات الجديدة ومناقشة التحديات الواقعية في أبحاث المواد وإنتاجها.

حلول مخصصة للتصوير المجهري الإلكتروني الماسح لأبحاث المواد

عرضت شركة CIQTEK حلولاً للمجهر الإلكتروني مصممة لدعم مجموعة واسعة من تطبيقات علوم المواد.

أنظمتنا مناسبة تمامًا لما يلي:

تحليل البنية المجهرية للمعادن والسبائك
تحليل الأعطال والتحقيق في العيوب
توصيف المساحيق والجسيمات
التصنيع الإضافي وبحوث المواد الجديدة

أبدى العديد من الزوار اهتماماً خاصاً بكيفية توفير أنظمة CIQTEK لأداء تصوير مستقر مع الحفاظ على سهولة التشغيل. ويُعدّ هذا المزيج بالغ الأهمية للمختبرات التي تسعى إلى تحقيق التوازن بين الأداء وسهولة الاستخدام والميزانية.

أجرينا أيضًا مناقشات معمقة مع المستخدمين حول التحديات التي يواجهونها يوميًا، مثل تحسين كفاءة التصوير، وتبسيط سير العمل، والتعامل مع العينات المعقدة. تساعدنا هذه المحادثات على مواءمة حلولنا بشكل أفضل مع احتياجات التطبيقات الفعلية.

حضور ودعم محلي قوي في الولايات المتحدة

تُعد المشاركة في مؤتمر TMS 2026 جزءًا من استراتيجية CIQTEK الأوسع لتوسيع أعمالها في مجال المجهر الإلكتروني في السوق الأمريكية.

نقدم لكم:

أ مركز عرض مقره الولايات المتحدة للتقييم العملي
الدعم الفني والتطبيقي المحلي في الولايات المتحدة
استجابة أسرع للخدمة والتدريب

نواصل الاستثمار في الفرق المحلية والبنية التحتية والشراكات لدعم الباحثين ومستخدمي الصناعة بشكل أفضل. ومن خلال الجمع بين التكنولوجيا التنافسية والخدمات المحلية، تهدف CIQTEK إلى جعل المجهر الإلكتروني عالي الجودة في متناول الجميع في جميع أنحاء أمريكا الشمالية.

تواصل مع فريقنا في الولايات المتحدة مباشرة: info.usa@ciqtek.com

منتجات ذات صله

خيوط التنغستن SEM | سيم3300

دقة عالية جدًا مجهر مسح إلكتروني بخيوط التنغستن ال سيكتيك SEM3300 المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) يتضمن تقنيات مثل بصريات الإلكترونات "النفق الفائق"، وكاشفات الإلكترونات داخل العدسة، والعدسات الشيئية المركبة الكهروستاتيكية والكهرومغناطيسية. بتطبيق هذه التقنيات على مجهر خيوط التنغستن، يتم تجاوز حد الدقة الثابت لهذا المجهر، مما يُمكّن مجهر خيوط التنغستن من إجراء تحليلات منخفضة الجهد لم تكن تُنجز سابقًا إلا باستخدام مجهرات الانبعاث الميداني.

يتعلم أكثر

FIB-SEM | DB550

جا + مجهر مسح إلكتروني بإصدار مجال حزمة الأيونات المركزة ال مجهر مسح إلكتروني بشعاع أيوني مركّز CIQTEK DB550 (FIB-SEM) يتميز بعمود شعاع أيوني مُركّز للتحليل النانوي وتحضير العينات. ويستخدم تقنية بصريات الإلكترونات "النفقية الفائقة"، وتصميمًا منخفض الانحراف، وعدسة غير مغناطيسية، ويتميز بخاصية "الجهد المنخفض، الدقة العالية" لضمان قدراته التحليلية النانوية. تسهل أعمدة الأيونات عملية Ga + مصدر أيونات معدنية سائلة بحزم أيونية عالية الجودة ومستقرة للغاية لضمان قدرات التصنيع النانوي. DB550 هو محطة عمل متكاملة للتحليل والتصنيع النانوي، مزودة بمعالج نانوي متكامل، ونظام حقن غاز، وبرنامج واجهة مستخدم رسومية سهل الاستخدام.

يتعلم أكثر

FESEM عالي الدقة للغاية | SEM5000X

مجهر مسح إلكتروني عالي الدقة بانبعاث المجال (FESEM) ال سيكتيك SEM5000X مجهر FESEM فائق الدقة بتصميم عمود بصري إلكتروني مُحسّن، يُقلل الانحرافات الكلية بنسبة 30%، محققًا دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت. دقته العالية واستقراره يجعله مفيدًا في أبحاث المواد النانوية الهيكلية المتقدمة، بالإضافة إلى تطوير وتصنيع رقائق الدوائر المتكاملة شبه الموصلة عالية التقنية.

يتعلم أكثر

الأخبار والأحداث