تم تسليم SEM5000 إلى مركز المنصة الرئيسي التابع لمعهد العلوم الزراعية في الصين

CIQTEK SEM5000 هو مجهر إلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية يتمتع بقدرة تصوير وتحليل عالية الدقة، مدعوم بوظائف وفيرة، ويستفيد من تصميم عمود البصريات الإلكترونية المتقدم، مع تقنية نفق شعاع الإلكترون عالي الضغط (SuperTunnel)، وانحراف منخفض، وعدم الغمر عدسة موضوعية، تحقق تصويرًا عالي الدقة بجهد منخفض، ويمكن أيضًا تحليل العينة المغناطيسية. من خلال التنقل البصري، والوظائف الآلية، وواجهة المستخدم التفاعلية بين الإنسان والكمبيوتر المصممة بعناية، وعملية التشغيل والاستخدام المُحسّنة، بغض النظر عما إذا كنت خبيرًا أم لا، يمكنك البدء بسرعة وإكمال أعمال التصوير والتحليل عالية الدقة.

CIQTEK SEM4000 هو مجهر إلكتروني تحليلي لمسح انبعاث المجال الحراري ومجهز بمسدس شوتكي الإلكتروني عالي السطوع وطويل العمر. يتميز تصميم العدسة المغناطيسية ثلاثي المراحل، مع تيار شعاع كبير وقابل للتعديل باستمرار، بمزايا واضحة في EDS، وEBSD، وWDS، وغيرها من التطبيقات. دعم وضع فراغ منخفض، يمكن أن تلاحظ مباشرة موصلية العينات الضعيفة أو غير الموصلة. يعمل وضع التنقل البصري القياسي، بالإضافة إلى واجهة التشغيل البديهية، على تسهيل عمل التحليل.

CIQTEK SEM3200 هو مجهر إلكتروني ماسح بخيوط التنغستن عالي الأداء. تتمتع بقدرات جودة تصوير ممتازة في كل من أوضاع الفراغ العالية والمنخفضة. كما أن لديها عمقًا كبيرًا في المجال مع بيئة سهلة الاستخدام لتوصيف العينات. علاوة على ذلك، تساعد قابلية التوسع الغنية المستخدمين على استكشاف عالم التصوير المجهري.

CIQTEK SEM4000Pro هو مجهر إلكتروني تحليلي لمسح انبعاث المجال ومجهز بمسدس شوتكي الإلكتروني عالي السطوع وطويل العمر. بفضل تصميم عمود البصريات الإلكترونية المكثف ثلاثي المراحل لتيارات الشعاع التي تصل إلى 200 nA، يوفر SEM4000Pro مزايا في EDS وEBSD وWDS والتطبيقات التحليلية الأخرى. يدعم النظام وضع التفريغ المنخفض بالإضافة إلى كاشف إلكترون ثانوي منخفض التفريغ عالي الأداء وكاشف الإلكترونات المرتدة القابلة للسحب، والذي يمكن أن يساعد بشكل مباشر في ملاحظة العينات ذات التوصيل السيئ أو حتى غير الموصلة. يعمل وضع التنقل البصري القياسي وواجهة تشغيل المستخدم البديهية على تسهيل عمل التحليل.

CIQTEK SEM5000X هو مجهر إلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية عالي الدقة (FE-SEM) بدقة مذهلة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت. من خلال الاستفادة من عملية هندسة الأعمدة التي تمت ترقيتها، وتقنية "SuperTunnel"، وتصميم العدسات الشيئية عالية الدقة، يمكن لـ SEM5000X تحقيق المزيد من التحسينات في دقة التصوير ذات الجهد المنخفض. تمتد منافذ حجرة العينات إلى 16 منفذًا، ويدعم قفل تحميل تبادل العينات ما يصل إلى 8 بوصات من حجم الرقاقة (القطر الأقصى 208 مم)، مما يؤدي إلى توسيع التطبيقات بشكل كبير. تغطية. توفر أوضاع المسح المتقدمة والوظائف الآلية المحسنة أداءً أقوى وتجربة أكثر تحسينًا.