الاحتفال بالتركيب الناجح لـ CIQTEK SEM5000X في GSEM في كوريا

فائق الدقة عالية الدقة ، المسح المجهري للانبعاثات الإلكترونية (FESEM)ال CIQTEK SEM5000X هو دقة عالية للغاية FESEM مع تصميم العمود البصريات الإلكترون المحسنة ، مما يقلل من الانحرافات الإجمالية بنسبة 30 ٪ ، لتحقيق دقة عالية للغاية قدرها 0.6 نانومتر@15 كيلو فولت و 1.0 نانومتر@1 كيلو فولت إن الدقة والاستقرار العالية تجعلها مفيدة في أبحاث المواد النانوية المتقدمة ، بالإضافة إلى تطوير وتصنيع رقائق IC أشباه الموصلات عالية التقنية.

المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني التحليلي (FESEM) ذو الشعاع الكبير I CIQTEK SEM4000Pro هو نموذج تحليلي لـ FE-SEM، مزود بمسدس شوتكي الإلكتروني عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم العدسة الكهرومغناطيسية ثلاثي المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS / EDX، وEBSD، وWDS، والمزيد. إنه يأتي قياسيًا مع وضع فراغ منخفض وكاشف إلكترون ثانوي منخفض الفراغ عالي الأداء، بالإضافة إلى كاشف إلكترون منتثر خلفي قابل للسحب، مما يفيد في مراقبة العينات سيئة التوصيل أو غير موصلة.

عالية الأداء والعالمية خيوط التنغستن SEM المجهر يعد مجهر CIQTEK SEM3200 SEM مجهرًا إلكترونيًا ممتازًا لمسح خيوط التنغستن (SEM) للأغراض العامة مع إمكانات شاملة متميزة. ويضمن هيكل المسدس الإلكتروني الفريد ثنائي الأنود دقة عالية ويحسن نسبة إشارة الصورة إلى الضوضاء عند جهد كهربائي منخفض. علاوة على ذلك، فهو يقدم مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 أداة تحليلية متعددة الاستخدامات ذات قابلية استهلاك ممتازة.