CIQTEK للمجهر الإلكتروني يعزز حضوره العالمي في مؤتمر ESEM 2025 في مصر
CIQTEK للمجهر الإلكتروني يعزز حضوره العالمي في مؤتمر ESEM 2025 في مصر
October 13, 2025
سيكتيك
يشرفني أن أكون قد شاركت في
المؤتمر الدولي للجمعية المصرية للميكروسكوب الإلكتروني (ESEM) 2025
، الذي عقد في الفترة من 13 إلى 15 أكتوبر في
معهد تيودور بلهارس للأبحاث (TBRI)
في الجيزة، مصر. جمع هذا الحدث خبراء المجهر الإلكتروني، وباحثين، وممثلين عن الصناعة من مختلف أنحاء الشرق الأوسط وأفريقيا، وساهم في تطوير آفاق المجهر في كل من علوم الحياة وأبحاث المواد.
موضوع هذا العام،
دور المجهر الإلكتروني في كشف ما لا يُرى
لقي هذا الحدث صدىً واسعًا في جلسات تناولت علم الأمراض العصبية، وخزعة الكلى، والعوامل المُعدية، وتصوير البنية النانوية، وتقنيات المجهر الناشئة. وقد لعب معهد بحوث الطب الحيوي (TBRI) دورًا محوريًا في تنظيم هذا الحدث، بالتعاون مع جامعات مصرية مثل طنطا وأسيوط.
مساهمات ومشاركات CIQTEK
في ESEM 2025، عرضت CIQTEK
خط منتجات SEM
، مشتمل
فيبسيم
،
فيسيم
، و
مجهر المسح الإلكتروني بخيوط التنغستن
وقد حظيت جناحنا باهتمام الباحثين في مجال العلوم البيولوجية وعلوم المواد، الذين كانوا حريصين على رؤية تصوير العينات الحقيقية، والأداء منخفض الجهد، والتكامل التحليلي.
بالإضافة إلى المعروضات، شارك ممثلو CIQTEK في تبادل تقني، وناقشوا كيف يمكن لأدوات المجهر الإلكتروني الماسح المتقدمة أن تعزز البنية التحتية البحثية الإقليمية. وأكدنا التزامنا
تقديم أدوات عالية الأداء وأسعار تنافسية وشبكات دعم محلية
لتسهيل التبني في المختبرات المتنوعة في جميع أنحاء المنطقة.
التأثير والتوقعات
سلّط المؤتمر الضوء على دور المجهر في كشف ما هو خفيّ، من البنية الدقيقة للخلايا إلى ظواهر المواد النانوية. وقد أتاحت هذه الفعالية للعديد من المشاركين فرصة نادرة للاطلاع على مجموعة واسعة من تقنيات التصوير تحت سقف واحد، والتواصل مباشرةً مع بائعين مثل CIQTEK.
من خلال التعاون مع العلماء والمؤسسات المحلية، يُعمّق مركز CIQTEK نطاقه العالمي ويُساهم في نموّ علم المجهر في المناطق الأقل تمثيلاً. نتطلع إلى مواصلة دعمنا في أفريقيا والشرق الأوسط من خلال تركيب الأجهزة والتدريب وتقديم خدمة سريعة الاستجابة.
تحليلي شوتكي مجهر مسح الانبعاث الميداني الإلكتروني (FESEM) سيكتيك SEM4000Pro هو نموذج مجهر مسح إلكتروني تحليلي FE-SEM مزود بمدفع إلكترونات شوتكي عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم عدساته الكهرومغناطيسية ثلاثية المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS/EDX، وEBSD، وWDS، وغيرها. يأتي النموذج قياسيًا مع وضع الفراغ المنخفض وكاشف إلكترونات ثانوي عالي الأداء ومنخفض الفراغ، بالإضافة إلى كاشف إلكترونات مرتد قابل للسحب، مما يُسهّل رصد العينات ضعيفة التوصيل أو غير الموصلة.
خيوط التنغستن عالية الأداء وعالمية SEM مجهر ال مجهر المسح الإلكتروني CIQTEK SEM3200 مجهر مسح إلكتروني (SEM) ممتاز متعدد الأغراض مصنوع من خيوط التنغستن، يتميز بقدرات إجمالية فائقة. يضمن تصميمه الفريد المزود بمدفع إلكتروني ثنائي الأنود دقة عالية، ويُحسّن نسبة الإشارة إلى الضوضاء في الصورة عند جهد إثارة منخفض. علاوة على ذلك، يوفر مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 جهازًا تحليليًا متعدد الاستخدامات وقابلًا للتوسعة بشكل ممتاز.