CIQTEK Electron Microscopy Advances its Global Footprint at ESEM 2025 in Egypt
CIQTEK Electron Microscopy Advances its Global Footprint at ESEM 2025 in Egypt
October 13, 2025
CIQTEK is honored to have participated in the Egyptian Society of Electron Microscopy (ESEM) International Conference 2025, held October 13–15 at the Theodor Bilharz Research Institute (TBRI) in Giza, Egypt. This event convened electron microscopy experts, researchers, and industry representatives from across the Middle East, Africa, and beyond, advancing the frontiers of microscopy in both life sciences and materials research.
This year’s theme, “The Role of Electron Microscopy in Enlightening the Invisible”, resonated across sessions on neuropathology, renal biopsy, infectious agents, nanostructure imaging, and emerging microscopy techniques. TBRI played a central role in organizing the event, in cooperation with Egyptian universities such as Tanta and Assiut.
CIQTEK’s Contributions & Engagement
At ESEM 2025, CIQTEK showcased its SEM product line, including FIBSEM, FESEM, and Tungsten Filament SEM. Our booth drew interest from both biological and materials science researchers, keen to see real-sample imaging, low-voltage performance, and analytical integration.
Beyond exhibits, CIQTEK representatives engaged in technical exchange, discussing how advanced SEM tools can bolster regional research infrastructure. We emphasized our commitment to delivering high-performing instruments, competitive pricing, and local support networks to facilitate adoption in diverse labs across the region.
Impact & Outlook
The conference underscored how microscopy continues to unveil the unseen—from cellular ultrastructure to nanomaterial phenomena. For many participants, this was a rare opportunity to access a wide spectrum of imaging techniques under one roof, and to converse directly with vendors like CIQTEK.
By engaging with local scientists and institutions, CIQTEK deepens its global reach and contributes to the growth of microscopy in underrepresented regions. We look forward to continuing our support in Africa and the Middle East through instrument installations, training, and responsive service.
تحليلي شوتكي مجهر مسح الانبعاث الميداني الإلكتروني (FESEM) سيكتيك SEM4000Pro هو نموذج مجهر مسح إلكتروني تحليلي FE-SEM مزود بمدفع إلكترونات شوتكي عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم عدساته الكهرومغناطيسية ثلاثية المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS/EDX، وEBSD، وWDS، وغيرها. يأتي النموذج قياسيًا مع وضع الفراغ المنخفض وكاشف إلكترونات ثانوي عالي الأداء ومنخفض الفراغ، بالإضافة إلى كاشف إلكترونات مرتد قابل للسحب، مما يُسهّل رصد العينات ضعيفة التوصيل أو غير الموصلة.
خيوط التنغستن عالية الأداء وعالمية SEM مجهر ال مجهر المسح الإلكتروني CIQTEK SEM3200 مجهر مسح إلكتروني (SEM) ممتاز متعدد الأغراض مصنوع من خيوط التنغستن، يتميز بقدرات إجمالية فائقة. يضمن تصميمه الفريد المزود بمدفع إلكتروني ثنائي الأنود دقة عالية، ويُحسّن نسبة الإشارة إلى الضوضاء في الصورة عند جهد إثارة منخفض. علاوة على ذلك، يوفر مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 جهازًا تحليليًا متعدد الاستخدامات وقابلًا للتوسعة بشكل ممتاز.