تستضيف CIQTEK برنامج التدريب التشغيلي المتقدم للمجاهر SEM لـ GSEM KOREA
تستضيف CIQTEK برنامج التدريب التشغيلي المتقدم للمجاهر SEM لـ GSEM KOREA
August 15, 2024
تعلن CIQTEK ، الشركة الرائدة في مجال توفير الأدوات العلمية المتقدمة، عن الإكمال الناجح لبرنامج تدريبي شامل يركز على تشغيل وتطبيق سلسلة المجهر الإلكتروني المتطور ( SEM) مع GSEM KOREA . تم إجراء التدريب في مركز تطبيقات CIQTEK في الفترة من 7 إلى 8 أغسطس، وكان يهدف إلى تعزيز خبرة الوكيل في التصوير عالي الدقة لمختلف التخصصات العلمية، وتوفير رؤى قيمة حول الميزات والوظائف المتقدمة .
ضم البرنامج فريقًا من المدربين ذوي الخبرة والخبراء الفنيين من CIQTEK ، الذين قاموا بتوجيه الحضور عبر تعقيدات عمليات SEM . اكتسب المشاركون رؤى حول تقنيات إعداد العينات، وتحسين معلمات التصوير، ومنهجيات تحليل البيانات للحصول على صور عالية الجودة واستخراج معلومات قيمة من العينات بدقة.
أعربت الدكتورة ليزا، عالمة التطبيقات الأولى في CIQTEK ، عن حماسها للتعاون الناجح مع GSEM KOREA قائلة: "يسعدنا أن نتشارك مع GSEM KOREA لتقديم هذا البرنامج التدريبي الشامل. ومن خلال هذا التدريب، نهدف إلى تجهيز الباحثين. بالمهارات اللازمة للاستفادة من هذه الأدوات بفعالية."
تلتزم CIQTEK بتعزيز التقدم العلمي وتمكين الباحثين بالتقنيات المتطورة. ومن خلال تنظيم برامج التدريب والشراكة مع الشركات الرائدة مثل GSEM KOREA ، تواصل CIQTEK تسهيل تبادل المعرفة وتعزيز الابتكار في البحث العلمي.
المجهر الإلكتروني الماسح بالانبعاث الميداني التحليلي (FESEM) ذو الشعاع الكبير I CIQTEK SEM4000Pro هو نموذج تحليلي لـ FE-SEM، مزود بمسدس شوتكي الإلكتروني عالي السطوع وطويل العمر. يوفر تصميم العدسة الكهرومغناطيسية ثلاثي المراحل مزايا كبيرة في التطبيقات التحليلية مثل EDS / EDX، وEBSD، وWDS، والمزيد. إنه يأتي قياسيًا مع وضع فراغ منخفض وكاشف إلكترون ثانوي منخفض الفراغ عالي الأداء، بالإضافة إلى كاشف إلكترون منتثر خلفي قابل للسحب، مما يفيد في مراقبة العينات سيئة التوصيل أو غير موصلة.
عالية الأداء والعالمية خيوط التنغستن SEM المجهر يعد مجهر CIQTEK SEM3200 SEM مجهرًا إلكترونيًا ممتازًا لمسح خيوط التنغستن (SEM) للأغراض العامة مع إمكانات شاملة متميزة. ويضمن هيكل المسدس الإلكتروني الفريد ثنائي الأنود دقة عالية ويحسن نسبة إشارة الصورة إلى الضوضاء عند جهد كهربائي منخفض. علاوة على ذلك، فهو يقدم مجموعة واسعة من الملحقات الاختيارية، مما يجعل SEM3200 أداة تحليلية متعددة الاستخدامات ذات قابلية استهلاك ممتازة.
الفحص المجهري الإلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية عالي الدقة (FESEM)يتحدى الحدود CIQTEK SEM5000X عبارة عن FESEM عالي الدقة مع تصميم عمود بصريات إلكتروني محسّن، مما يقلل الانحرافات الإجمالية بنسبة 30%، ويحقق دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت . إن دقتها العالية واستقرارها يجعلها مفيدة في أبحاث المواد الهيكلية النانوية المتقدمة، فضلاً عن تطوير وتصنيع رقائق IC لأشباه الموصلات ذات التقنية العالية.
الجيل القادم من المجهر الإلكتروني لخيوط التنغستن يشتمل CIQTEK SEM3300 المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) على تقنيات مثل البصريات الإلكترونية "Super-Tunnel"، وكاشفات الإلكترون الداخلية، والعدسات الموضوعية المركبة الكهروستاتيكية والكهرومغناطيسية. من خلال تطبيق هذه التقنيات في مجهر خيوط التنغستن، يتم تجاوز الحد الأقصى للدقة طويل الأمد لمثل هذا المجهر، مما يمكّن SEM من خيوط التنغستن من أداء مهام تحليل الجهد المنخفض التي لم يكن من الممكن تحقيقها في السابق إلا باستخدام SEM للانبعاث الميداني.
120 كيلو فولت المجهر الإلكتروني لنقل الانبعاثات الميدانية (TEM) 1. مساحات العمل المقسمة: يقوم المستخدمون بتشغيل TEM في غرفة مقسمة مع الراحة مما يقلل من التداخل البيئي مع TEM. 2. كفاءة تشغيلية عالية: يدمج البرنامج المخصص عمليات مؤتمتة للغاية، مما يسمح بتفاعل TEM فعال مع المراقبة في الوقت الفعلي. 3. تجربة تشغيلية مطورة: مجهزة بمسدس إلكتروني ذو انبعاث ميداني مع نظام آلي للغاية. 4. قابلية توسعة عالية: توجد واجهات كافية مخصصة للمستخدمين للترقية إلى تكوين أعلى، والذي يلبي متطلبات التطبيقات المتنوعة.