لدعم عملية النشر، قدّم فريق الهندسة في CIQTEK تدريبًا شاملاً في الموقع لفريق JH Technologies. شمل ذلك تشغيلًا تفصيليًا للنظام، وعروضًا توضيحية للتطبيقات، ومناقشات تقنية مُصممة خصيصًا لحالات الاستخدام الواقعية. وقد عزز هذا التعاون قدرات فريق JH في عرض ودعم أجهزة CIQTEK.
بعد التسليم، استضافت شركة JH Technologies حفلًا ناجحًا
البيت المفتوح
في منشأتها في فريمونت، قدّمت شركة JH Technologies عروضًا توضيحية مباشرة لكلا النظامين. وقد استقطب الحدث حضورًا قويًا من الأكاديميين والمتخصصين في القطاع، مما أثار اهتمامًا كبيرًا وردود فعل إيجابية. وبفضل هذا النجاح، تخطط JH Technologies لتنظيم المزيد من فعاليات اليوم المفتوح قريبًا للترويج لحلول التصوير المتقدمة من CIQTEK.
تقنية تصوير مثبتة للتطبيقات الصعبة
ال
SEM3300
يجمع هذا المنتج بين مصدر خيوط التنغستن التقليدي والبصريات الحديثة، مما يوفر أداءً عالي الدقة عند جهد تسارع منخفض. كما يوفر حلاً قويًا وسهل الاستخدام للتحليل والبحث الروتيني.
ال
SEM5000X
يوفر تصويرًا فائق الدقة وميزات أتمتة متقدمة، مما يجعله مثاليًا لعلوم المواد، وفحص أشباه الموصلات، وأبحاث تكنولوجيا النانو. يوفر كلا النظامين واجهات مستخدم سهلة الاستخدام وخيارات تكوين مرنة لتلبية احتياجات التطبيقات المتنوعة.
التطلع إلى الأمام
يعكس تعاون CIQTEK مع JH Technologies رؤية مشتركة لتقديم أجهزة مجهر إلكتروني SEM عالمية المستوى، مدعومة بخبرة محلية راسخة. ومن خلال الجمع بين الأداء وسهولة الاستخدام وسهولة الوصول، تكتسب CIQTEK زخمًا متزايدًا بين المستخدمين الأمريكيين في مجالات البحث والتصنيع والتعليم.
علّق أليكس تشانغ، نائب مدير مجموعة الأعمال الخارجية في CIQTEK، قائلاً: "نفخر برؤية أجهزة SEM الخاصة بنا بين أيدي شريكٍ محترفٍ وكفؤٍ كهذا. يشهد السوق الأمريكي زخمًا قويًا، ونحن ملتزمون بتعزيز دعمنا للعملاء المحليين من خلال التعاون الوثيق مع موزعين مثل JH Technologies."
مجهر مسح إلكتروني عالي الدقة بانبعاث المجال (FESEM) ال سيكتيك SEM5000X مجهر FESEM فائق الدقة بتصميم عمود بصري إلكتروني مُحسّن، يُقلل الانحرافات الكلية بنسبة 30%، محققًا دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت. دقته العالية واستقراره يجعله مفيدًا في أبحاث المواد النانوية الهيكلية المتقدمة، بالإضافة إلى تطوير وتصنيع رقائق الدوائر المتكاملة شبه الموصلة عالية التقنية.
دقة عالية جدًا مجهر مسح إلكتروني بخيوط التنغستن ال سيكتيك SEM3300 المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) يتضمن تقنيات مثل بصريات الإلكترونات "النفق الفائق"، وكاشفات الإلكترونات داخل العدسة، والعدسات الشيئية المركبة الكهروستاتيكية والكهرومغناطيسية. بتطبيق هذه التقنيات على مجهر خيوط التنغستن، يتم تجاوز حد الدقة الثابت لهذا المجهر، مما يُمكّن مجهر خيوط التنغستن من إجراء تحليلات منخفضة الجهد لم تكن تُنجز سابقًا إلا باستخدام مجهرات الانبعاث الميداني.