CIQTEK to Participate in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM 2026)
CIQTEK to Participate in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM 2026)
January 15, 2026
CIQTEK is pleased to announce its participation in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM), which will take place on February 19–20, 2026, at The University of Texas at Austin, USA.
Marking six decades of contributions to the microscopy community, TSM 2026 brings together researchers, facility managers, and industry professionals to discuss both the legacy and the future of microscopy. CIQTEK is honored to be part of this milestone event and to engage with the Texas and broader U.S. microscopy community.
Supporting Advanced Microscopy with Practical, High-Performance EM Solutions
At TSM 2026, CIQTEK will showcase its growing portfolio of electron microscopes (EM), designed to meet the evolving needs of academic research, shared facilities, and industrial laboratories.
CIQTEK's EM product line covers a wide range of applications, from routine imaging to advanced materials characterization, including:
FIB-SEM systems, delivering enhanced brightness and resolution for materials science and industrial inspection
Field Emission SEM (FE-SEM), engineered for high-resolution imaging, analytical workflows, and demanding research environments
Tungsten filament SEM, offering stable performance and cost-effective solutions for teaching labs and routine analysis
Across the portfolio, CIQTEK focuses on delivering reliable imaging performance, intuitive system operation, and long-term ownership value, helping laboratories achieve consistent results without unnecessary complexity.
Engaging with the Microscopy Community
CIQTEK views conferences like TSM not only as an opportunity to present instrumentation, but also as a platform for meaningful technical exchange. During the meeting, the CIQTEK team looks forward to discussing real-world microscopy challenges, system selection considerations, and long-term operational needs with users across materials science, life science, and industrial applications.
For attendees interested in learning more about CIQTEK EM solutions or exploring potential collaborations, CIQTEK warmly welcomes conversations during the meeting in Austin!
Local Support from CIQTEK USA
To better serve customers in North America, CIQTEK maintains a local branch in the United States, providing regional sales support, application consultation, and long-term service assistance for electron microscopy users.
For more information about CIQTEK EM solutions or to connect with the CIQTEK USA team, please contact us at info.usa@ciqtek.com.
120 كيلو فولت المجهر الإلكتروني لنقل الانبعاثات الميدانية (TEM) 1. مساحات العمل المقسمة: يقوم المستخدمون بتشغيل TEM في غرفة مقسمة مع الراحة مما يقلل من التداخل البيئي مع TEM. 2. كفاءة تشغيلية عالية: يدمج البرنامج المخصص عمليات مؤتمتة للغاية، مما يسمح بتفاعل TEM فعال مع المراقبة في الوقت الفعلي. 3. تجربة تشغيلية مطورة: مجهزة بمسدس إلكتروني ذو انبعاث ميداني مع نظام آلي للغاية. 4. قابلية توسعة عالية: توجد واجهات كافية مخصصة للمستخدمين للترقية إلى تكوين أعلى، والذي يلبي متطلبات التطبيقات المتنوعة.
دقة عالية جدًا مجهر مسح إلكتروني بخيوط التنغستن ال سيكتيك SEM3300 المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) يتضمن تقنيات مثل بصريات الإلكترونات "النفق الفائق"، وكاشفات الإلكترونات داخل العدسة، والعدسات الشيئية المركبة الكهروستاتيكية والكهرومغناطيسية. بتطبيق هذه التقنيات على مجهر خيوط التنغستن، يتم تجاوز حد الدقة الثابت لهذا المجهر، مما يُمكّن مجهر خيوط التنغستن من إجراء تحليلات منخفضة الجهد لم تكن تُنجز سابقًا إلا باستخدام مجهرات الانبعاث الميداني.
مجهر مسح إلكتروني عالي الدقة بانبعاث المجال (FESEM) ال سيكتيك SEM5000X مجهر FESEM فائق الدقة بتصميم عمود بصري إلكتروني مُحسّن، يُقلل الانحرافات الكلية بنسبة 30%، محققًا دقة فائقة تبلغ 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت. دقته العالية واستقراره يجعله مفيدًا في أبحاث المواد النانوية الهيكلية المتقدمة، بالإضافة إلى تطوير وتصنيع رقائق الدوائر المتكاملة شبه الموصلة عالية التقنية.