دقة فائقة FESEM | SEM5000X مورد، دقة فائقة FESEM | SEM5000X مصنع، دقة فائقة FESEM

دقة فائقة FESEM | SEM5000X

الفحص المجهري الإلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية عالي الدقة (FESEM): 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت و1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت

يستخدم CIQTEK SEM5000X FESEM فائق الدقة عملية هندسة الأعمدة التي تمت ترقيتها، وتقنية "SuperTunnel"، وتصميم العدسة الموضوعية عالي الدقة لتحسين دقة التصوير ذات الجهد المنخفض.

تمتد منافذ حجرة العينات FESEM SEM5000X إلى 16، ويدعم قفل تحميل تبادل العينات ما يصل إلى 8 بوصات من حجم الرقاقة (القطر الأقصى 208 مم)، مما يؤدي إلى توسيع التطبيقات بشكل كبير. توفر أوضاع المسح المتقدمة والوظائف الآلية المحسنة أداءً أقوى وتجربة أكثر تحسينًا.

FESEM عالي الدقة
(0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت)
تقنية البصريات الإلكترونية "SuperTunnel"
*وضع التباطؤ المزدوج (Duo-Dec)

مرحلة العينة الميكانيكية أحادية المركز
*قفل تحميل تبادل العينات (الحد الأقصى 8")

(*ملحقات اختيارية لـ FESEM SEM5000X)

أبرز مميزات تقنية CIQTEK FESEM SEM5000X

تصوير FESEM فائق الدقة مع اختراق 0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت، 1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت
تقنية التباطؤ المزدوج التي تجمع بين التباطؤ الترادفي لمرحلة العينة وتقنية البصريات الإلكترونية "SuperTunnel"، جاهزة لتحدي ظروف التصوير القاسية
مرحلة العينة الميكانيكية أحادية المركز عالية الدقة، وتصميم تخميد الاهتزاز فائق الاستقرار، والمتوفر أيضًا مع خيار التغليف المتكامل، يقلل بشكل كبير من التداخل البيئي الذي يمكن أن يؤثر على الدقة

قفل تحميل تبادل العينات لما يصل إلى 8 بوصات (قطر بحد أقصى 208 مم)، لأشباه الموصلات والبحث العلمي

معرض الصور CIQTEK FESEM SEM5000X

سيليكا مسامية
1 كيلو فولت (ثنائي-ديسمبر) / العدسات
لوحة ألومنيوم مؤكسدة
10 كيلو فولت / إينلينس
شريحة IC
5 كيلو فولت / BSED-COMP

أقسام الكلى
5 كيلو فولت / BSED-COMP
رغوة النيكل
2 كيلو فولت / ETD-SE
ياقوت الركيزة 5 كيلو فولت / ETD-SE

جزيئات الذهب
1 كيلو فولت / إينلينز
مقاوم الضوء
2 كيلو فولت / ETD-SE
مسحوق مغناطيسي
10 كيلو فولت / إينلينز

كرات ثاني أكسيد السيليكون
3 كيلو فولت / ETD-SE
المحفز
1 كيلو فولت / ETD-SE
دليل موجي
1 كيلو فولت / ETD-SE

CIQTEK فائق الدقة FESEM SEM5000X

مواصفات CIQTEK FESEM SEM5000X
المعلمات الرئيسية	القرار	0.6 نانومتر عند 15 كيلو فولت، SE 1.0 نانومتر عند 1 كيلو فولت، SE
	جهد التسارع	0.02~30 كيلو فولت
	التكبير	1~2,500,000 ×
	نوع المسدس الإلكتروني	مسدس شوتكي للانبعاث الإلكتروني
غرفة العينات	نظام الفراغ	التحكم الآلي بالكامل
	الكاميرات	كاميرات مزدوجة (ملاحة بصرية + مراقبة الغرفة)
	نوع المرحلة	مرحلة العينة الميكانيكية أحادية المركز ذات 5 محاور
	نطاق المرحلة	X=110 مم، Y=110 مم، Z=65 مم ت: -10*~+70°، يمين: 360°
كاشفات وملحقات SEM	قياسي	كاشف داخل العدسة كاشف إيفرهارت-ثورنلي (ETD)
كاشفات وملحقات SEM	اختياري	كاشف الإلكترونات المتناثرة الخلفي القابل للسحب (BSED) كاشف الفحص المجهري الإلكتروني القابل للسحب (STEM) مطياف تشتت الطاقة (EDS/EDX) نمط حيود التشتت الخلفي للإلكترون (EBSD) قفل تحميل تبادل العينات (4 بوصات و8 بوصات اختياري) لوحة تحكم كرة التتبع والمقبض التباطؤ الترادفي لمرحلة العينة نظام عزل المجال المغناطيسي والضوضاء الصوتية (معتمد من SEMI)
البرمجيات	اللغات	الإنجليزية
	نظام التشغيل	ويندوز
	الملاحة	كاميرا التنقل، التنقل السريع بالإيماءات
	الوظائف التلقائية	السطوع والتباين التلقائي، التركيز التلقائي، الوصمة التلقائية